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Volumn 36, Issue 9, 2009, Pages 4306-

Poster — Wed Eve—11: Pinhole Image Characterization of X‐Ray Tube Focal Spots using Storage Phosphor Imaging Technology

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EID: 76149118747     PISSN: 00942405     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1118/1.3244115     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.