Structures and electronic properties of beryllium atom encapsulated in Sin (0,-1) (n = 2-10) clusters

Journal of Physical Chemistry A

Volumn 114, Issue 2, 2010, Pages 1218-1223

  Fan, Hongwei ^a   Yang, Jucai ^a   Lu, Wei ^b   Ning, Hongmei ^a   Zhang, Qiancheng ^a  

^a INNER MONGOLIA UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (China)

^b CHINESE CULTURE UNIVERSITY   (Taiwan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ATOMS; BERYLLIUM; CRYSTAL ATOMIC STRUCTURE; ELECTRONIC PROPERTIES; GROUND STATE; SILICON;

ADIABATIC ELECTRON AFFINITY; DISSOCIATION ENERGIES; EQUILIBRIUM GEOMETRIES; GAUSSIANS; GROUND-STATE STRUCTURES; RELATIVE STABILITIES; SI ATOMS; SILICON CAGES;

SILICON COMPOUNDS;

EID: 75249104479     PISSN: 10895639     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp910326a     Document Type: Article

References (31)

1. Raghavachari, K. J. Chem. Phys. 1986, 84, 5672.
2. Raghavachari, K.; Rehiring, C. M. J. Chem. Phys. 1988, 89, 2219.
3. Zhu, X.; Zeng, X. C. J. Chem. Phys. 2003, 118, 3558.
4. Yang, J. C.; Xu, W. G.; Xiae, W. S. J. Mol. Struct. (THEOCHEM) 2005, 719, 89.
5. Raghavachari, K.; Rehlfing, C. M. J. Chem. Phys. 1991, 94, 3670.
6. Honea, E. C.; Ogura, A.; Murray, A. C.; Raghavachari, K.; Sprenger, W. O.; Jarrold, M. F.; Brown, W. L. Nature 1993, 366, 42.
7. Li, S.; Van Zee, R. J.; Weltner, W., Jr. J. Chem. Phys. 1994, 100, 7079.
8. Arnold, C. C.; Kitsopoulos, T. N.; Neumark, D. M. J. Chem. Phys. 1993, 99, 766.
9. Rohlfing, C. M.; Raghavachari, K. J. Chem. Phys. 1992, 96, 2114.
10. Xu, C.; Taylor, T. R.; Burton, G. R.; Neumark, D. M. J. Chem. Phys. 1998, 108, 1395.
11. Kawamata, H.; Negishi, Y.; Kishi, R.; Iwata, S.; Nakajima, A.; Kaya, K. J. Chem. Phys. 1996, 105, 5369.
12. Kishi, R.; Kawamata, H.; Negishi, Y.; Iwata, S.; Nakajima, A.; Kaya, K. J. Chem. Phys. 1997, 107, 10029.
13. Jarrold, M. F.; Bower, J. E. J. Chem. Phys. 1992, 96, 9180.
14. Ma, L.; Zhao, J.; Wang, J.; Lu, Q.; Zhu, L.; Wang, G. Chem. Phys. Lett. 2005, 411, 279.
15. Koyasu, K.; Atobe, J.; Akutsu, M.; Mitsui, M.; Nakajima, A. J. Phys. Chem. A 2007, 111, 42.
16. Jaeger, J. B.; Jaeger, T. D.; Duncan, M. A. J. Phys. Chem. A 2006, 110, 9310.
17. Ohara, M.; Koyasu, K.; Nakajima, A.; Kaya, K. Chem. Phys. Lett. 2003, 371, 490.
18. Wang, J.; Han, J.-G. J. Chem. Phys. 2005, 123, 064306.
19. Guo, P.; Ren, Z.-Y.; Yang, A.-P.; Han, J.-G.; Bian, J.; Wang, G.- H. J. Phys. Chem. A 2006, 110, 7450.
20. Sporea, C.; Rabilloud, F. J. Chem. Phys. 2007, 127, 164306.
21. Sporea, C.; Rabilloud, F.; Cosson, X.; Allouche, A. R.; Aubert- Frecon, M. J. Phys. Chem. A 2006, 110, 6032.
22. Sporea, C.; Rabilloud, F.; Allouche, A. R.; Frecon, M. J. Phys. Chem. A 2006, 110, 1046.
23. Yang, J.; Lin, L.; Zhang, Y.; Jalbout, A. F. Theor. Chem. Acc. 2008, 121, 83.
24. Hao, D.; Liu, J.; Yang, J. J. Phys. Chem. A 2008, 112, 10113.
25. Boldyrev, A. I.; Simons, J. J. Phys. Chem. 1993, 97, 1526.
26. Corkill, J. L.; Cohen, M. L. Phys. Rev.B 1993, 48, 17138.
27. Binning, R. C., Jr.; Bacelo, D. E. J. Phys. Chem. A 2005, 109, 754.
28. Curtiss, L. A.; Raghavachari, K.; Redfern, P. C.; Rassolov, V.; Pople, J. A. J. Chem. Phys. 1998, 109, 7764.
29. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Montgomery, J. A., Jr.; Vreven, T.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.; Millam, J. M.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Klene, M.; Li, X.; Knox, J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.; Bakken, V.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Ayala, P. Y.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian 03, revision C.02; Gaussian, Inc.: Wallingford, CT, 2004.
30. -is distorted tricapped trigonal prism.
31. n (n = 2-10) are calculated to be 0.042 eV.