High-pressure synthesis, structure, and electrical property of iodine-filled skutterudite i0.9Rh4Sb12-first anion-filled skutterudite

Chemistry of Materials

Volumn 22, Issue 1, 2010, Pages 47-51

  Fukuoka, Hiroshi ^a   Yamanaka, Shoji ^a  

^a HIROSHIMA UNIVERSITY   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

DENSITY OF STATE; ELECTRICAL PROPERTY; FILLED-SKUTTERUDITE; HIGH-PRESSURE SYNTHESIS; OXIDATION STATE; RIETVELD STRUCTURAL ANALYSIS; SKUTTERUDITE COMPOUNDS; SPACE GROUPS;

ANTIMONY COMPOUNDS; ELECTRIC PROPERTIES; INDUSTRIAL CHEMICALS; IODINE; RADON; RHODIUM; RIETVELD ANALYSIS; STRUCTURAL ANALYSIS; SYNTHESIS (CHEMICAL);

X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

EID: 74949141934     PISSN: 08974756     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/cm901594q     Document Type: Article

References (42)

1. Fukuoka, H.; Ueno, K.; Yamanaka, S. J. Organomet. Chem. 2000, 511, 543-546.
2. Yamanaka, S.; Enishi, E.; Fukuoka, H.; Yasukawa, M. Inorg. Chem. 2000, 39, 56.
3. Fukuoka, H.; Kiyoto, J.; Yamanaka, S. Inorg. Chem. 2003, 42, 2933-2937.
4. Rachi, T.; Yoshino, H.; Kumashiro, R.; Kitajima, M.; Kobayashi, K.; Yokogawa, K.; Murata, K.; Kimura, N.; Aoki, H.; Fukuoka, H.; Yamanaka, S.; Shimotani, H.; Takenobu, T.; Iwasa, Y.; Sasaki, T.; Kobayashi, N.; Miyazaki, Y.; Saito, K.; Guo, F.; Kobayashi, K.; Osaka, K.; Kato, K.; Takata, M.; Tanigaki, K. Phys. Rev. 2005, B72, 1445041-1445046.
5. Nesper, R.; Curda, J.; Schnering, H.-G. Angew. Chem., Int. Ed. Engl. 1986, 25, 350.
6. Reny, E.; Yamanaka, S.; Cros, C.; Pouchard, M. Chem. Commun. 2000, 2505-2506.
7. Zaikina, J. V.; Kovnir, K. A.; Sobolev, A. V.; Presniakov, I. A.; Prots, Y.; Baitinger, M.; Schnelle, W.; Olenev, A. V.; Lebedev, O. I.; Tendeloo, G. V.; Grin, Y.; Shevelkov, A. V. Chem. Eur. J. 2007, 13, 5090-5099.
8. Bauer, E. D.; Frederick, N. A.; Ho, P.-C.; Zapf, V. S.; Maple, M. B. Phys. Rev. 2002, B65, 1005061-1005064.
9. Wells, A. F. Structural Inorganic Chemistry, 5th ed.; Oxford University Press: Oxford, 1984; Chap. 6, p 267.
10. Meisner, G. P. Physica B 1980, 108, 163-164.
11. Shirotani, I.; Uchiumi, T.; Ohno, K.; Sekine, C.; Nakazawa, Y.; Kanoda, K.; Todo, S.; Yagi, T. Phys. Rev. 1997, B56, 7866-7869.
12. Takeda, N.; Ishikawa, M. Physica B 1999, 259-261, 92.
13. Sugawara, H.; Matsuda, T. D.; Abe, K.; Aoki, Y.; Sato, H.; Nojiri, S.; Inada, Y.; Settai, R.; Onuki, Y. Phys. Rev. 2002, B66, 1344111-1344115.
14. Nouneh, K.; Viennois, R.; Kityk, I. V.; Terki, F.; Charar, S.; Benet, S.; Paschen, S. Phys. Status Solidi 2004, B241,3069.
15. Shirotani, I.; Shimaya, Y.; Kihou, K.; Sekine, C.; Yagi, T. J. Solid State Chem. 2003, 174, 32-34.
16. Sekine, C.; Uchiumi, T.; Shirotani, I.; Matsuhira, K.; Sakakibara, T.; Goto, T.; Yagi, T. Phys. Rev. 2000, B62,11581-11584.
17. Kihou, K.; Shirotani, I.; Shimaya, Y.; Sekine, C.; Yagi, T. Mater. Res. Bull. 2004, 39, 317-325.
18. Shirotani, I.; Araseki, N.; Shimaya, Y.; Nakata, R.; Kihou, K.; Sekine, C.; Yagi, T. J. Phys.: Condens. Matter. 2005, 17, 4383-4391.
19. Nolas, G. S.; Slack, G. A.; Caillat, T.; Meisner, G. P. J. Appl. Phys. 1996, 79, 2622.
20. Nolas, G. S.; Slack, G. A.; Morelli, D. T.; Tritt, T. M.; Ehrlich, A. G J. Appl. Phys. 1996, 79, 4002.
21. Tritt, T. M.; Nolas, G. S.; Slack, G. A.; Ehrlich, A. C.; Gillespie, D. J.; Cohn, J. L. J. Appl. Phys. 1996, 79, 8412.
22. Bauer, E.; Grytsiv, A.; Chen, X.-Q.; Melnychenko-Koblyuk, N.; Hilscher, G.; Kaldarar, H.; Michor, H.; Royanian, E.; Giester, G.; Rotter, M.; Podloucky, R.; Rogl, P. Phys. Rev. Lett. 2007, 99, 217001.
23. Gumeniuk, R.; Schnelle, W.; Rosner, H.; Nicklas, M.; LeitheJasper, A.; Grin, Y. Phys. Rev. Lett. 2008, 100, 0170021-0170024.
24. Gumeniuk, R.; Rosner, H.; Schnelle, W.; Nicklas, M.; LeitheJasper, A.; Grin, Y. Phys. Rev. 2008, B78, 0525041-0525044.
25. Fukuoka, H.; Yamanaka, S. J. Alloys Compd. 2008, 461, 547-550.
26. Kaczorowski, D.; Tran, V. H. Phys. Rev. 2008, B77, 180504.
27. Fukuoka, H. Rev. High Pressure Sci. Techno. 2006, 16, 329.
28. Izumi, F.; Ikeda, T. Mater. Sci. Forum 2000, 321-324, 198-203.
29. Blaha, P.; Schwarz, K.; Sorantin, P.; Trickey, S. B. Comput. Phys. Commun. 1990, 59, 399.
30. Kjekshus, A.; Rakke, T. Acta Chem. Scand. 1974, Ser. A28, 99-103.
31. Lian, Y.; Borrmann, H.; Baenitz, M.; Schnelle, W.; Budnyk, S.; Zhao, J. T.; Grin, Y. Inorg. Chem. 2008, 47, 9489-9496.
32. Zeng, L.; Franzen, H. F. J. Alloys Compd. 2000, 311, 224-225.
33. Bauer, E.; Galatanu, A.; Michor, H.; Hilscher, G.; Rogl, P.; Boulet, P.; Noel, H. Eur. Phys. J. 2000, B14,483-493.
34. Chapon, L.; Ravot, D; Tedenac, J. C. J. Alloys Compd. 1999, 282, 58-63.
35. Braun, D. J.; Jeitschko, W. J. Less-Common Met. 1980, 72, 147-156.
36. Stetson, N. T.; Kauzlarich, S. M.; Hope, H J. Solid State Chem. 1991, 97, 140-147.
37. Wagner, C. D.; Riggs, W. M.; Davis, L. E.; Moulder, J. F.; Muilenberg, G. E. Handbook of X-ray Photoeleetron Spectroscopy; Perkin-Elmer: Minnesota, 1979.
38. Briggs, D.; Seah, M. P. Practical Surface Analysis. Auger and X-ray Photoeleetron Spectroscopy, 2nd ed.; Wiley: New York, 1990; Vol.7.
39. Koga, K.; Akai, K.; Oshiro, K.; Matsuura, M. Phys. Rev. 2005, B71, 155119.
40. Nouneh, K.; Reshak, A. H.; Auluck, S.; Kityk, I. V.; Viennois, R.; Benet, S.; Charar, S. J. Alloys Compd. 2007, 437, 39-46.
41. Pan, Z. J.; Zhang, L. T.; Wu, J. S. Mater. Lett. 2007, 57, 2648-2651.
42. Fornari, M.; Singh, D. J. Phys. Rev. 1999, B59, 9722-9724.