Structural properties of Ge/Si(001) nano-islands and AlGaN nanowires by Diffraction Anomalous Fine Structure and Multiwavelength Anomalous Diffraction

Journal of Physics: Conference Series

Volumn 190, Issue , 2009, Pages

  Katcho, N A ^a   Richard, M I ^b   Landre O ^c   Tourbot, G ^c   Proietti, M G ^d   Renevier, H ^e   Favre Nicolin, V ^c   Daudin, B ^c   Chen, G ^f   Zhang, J J ^f   Bauer, G ^f  

^a UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID   (Spain)

^b AIX MARSEILLE UNIVERSITÉ   (France)

^c CEA GRENOBLE   (France)

^d CSIC   (Spain)

^e LABORATOIRE DES MATÉRIAUX ET DU GÉNIE PHYSIQUE   (France)

^f JOHANNES KEPLER UNIVERSITY LINZ   (Austria)

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EID: 73449109842     PISSN: 17426588     EISSN: 17426596     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1088/1742-6596/190/1/012129     Document Type: Conference Paper

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