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Fortune
Volumn 160, Issue 10, 2009, Pages 20-
The standardized-test smackdown
(1)
Kaplan, David A
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EID
:
73049106104
PISSN
:
00158259
EISSN
:
None
Source Type
:
Journal
DOI
:
None
Document Type
:
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.
