Possible explanation for the efficiency of al-based coatings on LiCoO 2: Surface properties of LiCo1-xAlxO 2 solid solution

Chemistry of Materials

Volumn 21, Issue 23, 2009, Pages 5607-5616

  Daheron L ^a   Dedryvere R ^a   Martinez, H ^a   Flahaut, D ^a   Meetrier M ^b   Delmas, C ^b   Gonbeau, D ^a  

^a UNIVERSITÉ DE PAU ET DES PAYS DE L'ADOUR   (France)

^b CNRS   (France)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AL-BASED COATINGS; CORE MATERIAL; HIGH VOLTAGE; LITHIUM-ION BATTERY; PROBE MOLECULES; SURFACE ACID-BASE PROPERTY; XPS ANALYSIS;

ALUMINUM; COATINGS; COBALT; COREMAKING; CRYSTALLIZATION; DISSOLUTION; ELECTROLYTES; GAS ADSORPTION; LITHIUM ALLOYS; LITHIUM COMPOUNDS; SOLID SOLUTIONS; SOLIDIFICATION; SURFACE PROPERTIES; TRACE ANALYSIS;

X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

EID: 72949122349     PISSN: 08974756     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/cm901972e     Document Type: Article

References (54)

1. Mizushima, K.; Jones, P. C.; Wiseman, P. J.; Goodenough, J. B. Mater. Res. Bull. 1980, 15, 783-789.
2. Whittingham, M. S. Chem. Rev. 2004, 104, 4271-4302.
3. Wang, H.; Jang, Y.-I.; Huang, B.; Sadoway, D. R.; Chiang, Y.-M. J. Electrochem. Soc. 1999, 146, 473.
4. Amatucci, G. G.; Tarascon, J.-M.; Klein, L. C. Solid State Ionics 1996, 83, 167.
5. Ohzuku, T.; Ueda, A.; Kouguchi, M. J. Electrochem. Soc. 1995, 142, 4033.
6. Myung, S.-T.; Kumagai, N.; Komaba, S.; Chung, H.-T. Solid State Ionics 2001, 139, 47.
7. Julien, C.; Camacho-Lopez, M. A.; Lemal, M.; Ziolkiewicz, S. Mater. Sci. Eng. B 2002, 95, 6-13.
8. Ceder, G.; Chiang, Y.-M.; Sadoway, D. R.; Aydinol, M. K.; Jang, Y.-I.; Huang, B. Nature 1998, 392, 694.
9. Huang, H.; Subba-Rao, G. V.; Chowdari, B. V. R. J. Power Sources 1999, 81-82, 690-695.
10. Li, C.; Zhang, H. P.; Fu, L. J.; Liu, H.; Wu, Y. P.; Rahm, E.; Holze, R.; Wu, H. Q. Electrochim. Acta 2006, 51, 3872.
11. Kim, Y. J.; Cho, J.; Kim, T.-J.; Park, B. J. Electrochem. Soc. 2003, 150 A1723-A1725
12. Fey, G. T. K.; Kao, H. M.; Muralidharan, P.; Kumar, T. P.; Cho, Y. D. J. Power Sources 2006, 163, 135-143.
13. Cho, J.; Kim, Y. J.; Park, B. J. Electrochem. Soc. 2001, 148, A1110.
14. Cho, J. Electrochim. Acta 2003, 48, 2807.
15. Myung, S.-T.; Izumi, K.; Komaba, S.; Sun, Y.-K.; Yashiro, H.; Kumagai, N. Chem. Mater. 2005, 17, 3695-3704.
16. Kim, Y.; Kim, H. S.; Martin, S. W. Electrochim. Acta 2006, 52, 1316-1322.
17. Kim, Y. J.; Kim, H.; Kim, B.; Ahn, D.; Lee, J.-G.; Kim, T.-J.; Son, D.; Cho, J.; Kim, Y.-W.; Park, B. Chem. Mater. 2003, 15, 1505.
18. Lee, J.-G.; Kim, B.; Cho, J.; Kim, Y.-W.; Park, B. J. Electrochem. Soc. 2004, 151, A801.
19. Chen, Z.; Dahn, J. R. Electrochem. Solid-State Lett. 2002, 5, A213.
20. Cho, J.; Kim, T. G.; Kim, C.; Lee, J. G.; Kim, Y. W.; Park, B. J. Power Sources 2005, 146, 58.
21. Kim, B.; Kim, C.; Kim, T. G.; Ahn, D.; Park, B. J. Electrochem. Soc. 2006, 153, A1773-A1777.
22. Fey, G. T. K.; Weng, Z. X.; Chen, J. G.; Lu, C. Z.; Kumar, T. P.; Naik, S. P.; Chiang, A. S. T.; Lee, D. C.; Lin, J. R. J. Appl. Electrochem. 2004, 34, 715.
23. Cho, J.; Kim, Y. J.; Park, B. Chem. Mater. 2000, 12, 3788.
24. Fey, G. T. K.; Chen, J. G.; Prem Kumar, T. J. Power Sources 2005, 146, 250.
25. Verdier, S.; El Ouatani, L.; Dedryvère, R.; Bonhomme, F.; Biensan, P.; Gonbeau, D. J. Electrochem. Soc. 2007, 154, A1088-A1099.
26. Appapillai, A. T.; Mansour, A. N.; Cho, J.; Shao-Horn, Y. Chem. Mater. 2007, 19, 5748-5757.
27. Alexander, M. R.; Beamson, G.; Bailey, P.; Noakes, T. C. Q.; Skeldon, P.; Thompson, G. E. Surf. Interface Anal. 2003, 35, 649.
28. Lopez, S.; Petit, J.-P.; Tourillon, G.; Dunlop, H. M.; Butruille, J.-R. J. Electrochem. Soc. 1998, 145, 829.
29. Gaudin, E.; Taulelle, F.; Stoyanova, R.; Zhecheva, E.; Alcantara, R.; Lavela, P.; Tirado, J. L. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 8081-8087.
30. Rodriguez-Carvajal, J. Laboratoire Léon Brillouin. http://www.ill.eu/sites/fullprof, 2008.
31. (31) Shirley, D. A. Phys. Rev. B 1972, 5, 4709.
32. Scofield, J. H. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1976, 8, 129-137.
33. Jang, Y.-I.; Huang, B.; Wang, H.; Maskaly, G. R.; Ceder, G.; Sadoway, D. R.; Chiang, Y.-M.; Liu, H.; Tamura, H. J. Power Sources 1999, 81-82, 589-593.
34. Nasir Khan, M.; Bashir, J. Mater. Res. Bull. 2006, 41, 1589-1595.
35. Yoon, W.-S.; Lee, K.-K.; Kim, K.-B. J. Power Sources 2001, 97-98, 303-307.
36. Takahashi, Y.; Kijima, N.; Akimoto, J. J. Solid State Chem. 2005, 178, 3667-3671.
37. Alcantara, R.; Lavela, P.; Relaño, P. L.; Tirado, J. L.; Zhecheva, E.; Stoyanova, R. Inorg. Chem. 1998, 37, 264-269.
38. Lee, Y.; Woo, A. J.; Han, K.-S.; Ryu, K. S.; Sohn, D.; Kim, D.; Lee, H. Electrochim. Acta 2004, 50, 491-494.
39. Lei, L.; He, D.; Zou, Y.; Zhang, W.; Wang, Z.; Jiang, M.; Du, M. L Solid State Chem. 2008, 181, 1810-1815.
40. Orman, H. J.; Wiseman, P. J. Acta Crystallogr, Sect. C 1984, 40, 12.
41. Akimoto, J.; Gotoh, Y.; Oosawa, Y. J. Solid State Chem. 1998, 141, 298.
42. Marezio, M.; Remeika, J. P. J. Chem. Phys. 1966, 44, 3143-3145.
43. Marezio, M. Acta Crystallogr. 1965, 19, 396-400.
44. Henrich, V. E.; Cox, P. A. The Surface Science of Metal Oxides; Cambridge University Press, 1994.
45. Dahéron, L.; Dedryvère, R.; Martinez, H.; Ménétrier, M.; Delmas, C.; Gonbeau, D. Chem. Mater. 2008, 20, 583-590.
46. Dahéron, L.; Martinez, H.; Dedryvére, R.; Baraille, I.; Ménétrier, M.; Denage, C.; Delmas, C.; Gonbeau, D. J. Phys. Chem. C 2009, 113, 5843-5852.
47. Kim, K. S. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1974, 3, 217.
48. Kim, K. S.; Baittinger, W. E.; Amy, J. W.; Winograd, N. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1974, 5, 351.
49. van Elp, J.; Wieland, J. L.; Eskes, H.; Kuiper, P.; Sawatzky, G. A.; de Groot, F. M. F.; Turner, T. S. Phvs. Rev. B 1991, 44, 6090-6103.
50. Inagaki, S.; Fujimoto, H.; Fukui, K. J. Am. Chem. Soc. 1976, 98, 4054.
51. Rotole, J. A.; Sherwood, P. M. A. J. Vac. Sci. Technol. A 1999, 17, 1091-1096.
52. Lee, M.-H.; Cheng, C.-F.; Heine, V.; Klinowski, J. Chem. Phys. Lett. 1997, 265, 673-676.
53. Aurbach, D.; Markovsky, B.; Salitra, G.; Markevich, E.; Talyossef, Y.; Koltypin, M.; Nazar, L.; Ellis, B.; Kovacheva, D. J. Power Sources 2007, 165, 491-499.
54. Guimon, C.; Gervasini, A.; Auroux, A. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 10316.