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Volumn , Issue , 2009, Pages 92-93

Gate-all-around quantum-wire field-effect transistor with dopant segregation at metal-semiconductor-metal heterostucture

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CHANNEL ORIENTATIONS; DOPANT SEGREGATION; EXTERNAL RESISTANCE; GATE-ALL-AROUND; HETEROSTRUCTURES; INJECTION VELOCITY; METAL SEMICONDUCTOR METAL; QUANTUM WIRES;

EID: 71049153733     PISSN: 07431562     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
Times cited : (12)

References (13)
  • 2
    • 43049171760 scopus 로고    scopus 로고
    • S. D. Suk et al., IEDM, pp. 717, 2005.
    • (2005) IEDM , pp. 717
    • Suk, S.D.1
  • 3
    • 34347256205 scopus 로고    scopus 로고
    • K. H. Yeo et al., IEDM, pp. 539, 2006.
    • (2006) IEDM , pp. 539
    • Yeo, K.H.1
  • 4
    • 36148984226 scopus 로고    scopus 로고
    • N. Singh et al., IEDM, pp. 547, 2006.
    • (2006) IEDM , pp. 547
    • Singh, N.1
  • 5
    • 51949093374 scopus 로고    scopus 로고
    • H. Lee et al., VLSI Symp., pp. 58, 2006.
    • (2006) VLSI Symp , pp. 58
    • Lee, H.1
  • 6
    • 64549105070 scopus 로고    scopus 로고
    • Y. Tian et al., IEDM, pp. 895, 2007.
    • (2007) IEDM , pp. 895
    • Tian, Y.1
  • 7
    • 71049175173 scopus 로고    scopus 로고
    • M. Li et al., IEDM, pp. 899, 2007.
    • (2007) IEDM , pp. 899
    • Li, M.1
  • 9
    • 71049170351 scopus 로고    scopus 로고
    • C. Dupré et al., IEDM, pp. 749, 2008.
    • (2008) IEDM , pp. 749
    • Dupré, C.1
  • 13


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.