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Volumn 12, Issue 2, 2003, Pages 183-191

XQED: The next generation of wet light curve reduction and analysis software

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Methods: Data analysis; Techniques: Photometric

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EID: 70449824673     PISSN: 13920049     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.