Orientation of thiophenol adsorbed on silver determined by nonlinear vibrational spectroscopy of the carbon skeleton

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 108, Issue 41, 2004, Pages 16135-16138

  Mani, A A ^a   Schultz, Z D ^b   Caudano, Y ^a   Champagne, B ^a   Humbert, C ^a   Dreesen, L ^a   Gewirth, A A ^b   White, J O ^b   Thiry, P A ^a   Peremans, A ^a  

^a UNIVERSITY OF NAMUR   (Belgium)

^b University of Illinois at Urbana Champaign   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ANTISTATIC COATINGS; SUM-FREQUENCY GENERATION (SFG); THIOPHENOLS;

ABSORPTION; ELECTRIC CONDUCTIVITY; ELECTRODES; MOLECULAR VIBRATIONS; NATURAL FREQUENCIES; OPTOELECTRONIC DEVICES; PARAMETRIC OSCILLATORS; RAMAN SPECTROSCOPY; SILVER;

CARBON;

EID: 7044223088     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp037661d     Document Type: Article

References (33)

1. Heeger, A. J. Rev. Mod. Phys. 2001, 73, 681-700.
2. MacDiarmid, A. G. Rev. Mod. Phys. 2001, 73, 701-712.
3. Marder, S. R.; Kippelen, B.; Jen, A. K. Y.; Peyghambarian, N. Nature 1997, 388, 845-851.
4. Metzger, R. M.; Chen, B.; Höpfner, U.; Lakshmikantham, M. V.; Vuillaume, D.; Kawai, T.; Wu, X.; Tachinaba, H.; Hughes, T. V.; Sakurai, H.; Baldwin, J. W.; Hosen, C.; Cava, M. P.; Brehmer, L.; Ashwell, G. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 10455-10466.
5. Reed, M. A.; Zhou, C.; Muller, C. J.; Burgin, T. P.; Tour, J. Science 1997, 278, 252-254.
6. Johansson, A.; Stafstöm, S. Chem. Phys. Lett. 2000, 322, 301-306.
7. Wan, L.-J.; Terashima, M.; Noda, H.; Osawa, M. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 3563-3569.
8. Whelan, C. M.; Barnes, C. J.; Walker, C. G. H.; Brown, N. M. D. Surf. Sci. 1999, 425, 195-211.
9. Whelan, C. M.; Smyth, M. R.; Barnes, C. J. Langmuir 1999, 15, 116-126.
10. Tao, Y.-T.; Wu, C.-C; Eu, J.-Y.; Lin, W.-L.; Wu, K.-C.; Chen, C.-H. Langmuir 1997, 13, 4018-4023.
11. Sabatani, E.; Cohen-Boulakia, J.; Bruening, M.; Rubinstein, I. Langmuir 1593, 9, 2974-2981.
12. Dhirani, A.-A.; Zehner, R. W.; Hsung, R. P.; Guyot-Sionnest, P.; Sita, L. R. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 3319-3320.
13. Frey, S.; Stadleer, V.; Heister, K.; Eck, W.; Zharnikov, M.; Grunze, M.; Zeysing, B.; Terfort, A. Langmuir 2001, 17, 2408-2415.
14. Shen, W.; Nyberg, G. L.; Liesegang, J. Surf. Sci. 1993, 298, 143-160.
15. Yeganeh, M. S.; Dougal, S. M.; Polizzotti, R. S.; Rabinowitz, P. Phys. Rev. Lett. 1995, 74, 1811-1814.
16. Wei, X.; Zhuang, X.; Hong, S.-C.; Goto, T.; Shen, Y. R. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 4256-4259.
17. Tadjeddine, A.; Guyot-Sionnest, P. Electrochim. Acta 1991, 36, 1849-1854.
18. Peremans, A.; Caudano, Y.; Thiry, P.; Dumas, P.; Zheng, W.; Le Rille, A. ; Tadjeddine, A. Phys. Rev. Lett. 1997, 78, 2999-3002.
19. Mani, A. A.; Hollander, P.; Thiry, P. A.; Peremans, A. Appl. Phys. Lett. 1999, 75, 3066-3068.
20. Mani, A. A.; Dreesen, L.; Hollander, P.; Humbert, C.; Caudano, Y.; Thiry, P. A.; Peremans, A. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 1945-1947.
21. Mani, A. A.; Schultz, Z. D.; Gewirth, A. A.; White, J. O.; Caudano, Y.; Humbert, C.; Dreesen, L.; Thiry, P. A.; Peremans, A. Opt. Lett. 2004, 29, 274-276.
22. Braun, R.; Casson, B. D.; Bain, C. D.; van der Ham, E. W. M.; Vrehen, Q. H. F.; Eliel, E. R.; Briggs, A. M.; Davies, P. B. J. Chem. Phys. 1999, 110, 4634-4640.
23. Guyot-Sionnest, P. Nonlinear optical probes of surface dynamics: application to the vibrational dynamics of Si-H for Si(111)/H. In Laser techniques for state-selected and state-to-state chemistry; Cheuk-Yu, N., Ed.; Proc. SPIE: Bellingham, WA, 1993; Vol. 1858.
24. Becke, A. D. J. Chem. Phys. 1993, 98, 5648-5652.
25. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Zakrzewski, V. G.; Montgomery, J. A., Jr.; Stratmann, R. E.; Burant, J. C.; Dapprich, S.; Millam, J. M.; Daniels, A. D.; Kudin, K. N.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Tomasi, J.; Barone, V.; Cossi, M.; Cammi, R.; Mennucci, B.; Pomelli, C.; Adamo, C.; Clifford, S.; Ochterski, J.; Petersson, G. A.; Ayala, P. Y.; Cui, Q.; Morokuma, K.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Cioslowski, J.; Ortiz, J. V.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Gomperts, R.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Gonzalez, C.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B. G.; Chen, W.; Wong, M. W.; Andres, J. L.; Head-Gordon, M.; Replogle, E. S.; Pople, J. A. Gaussian 98, revision A.1; Gaussian, Inc.: Pittsburgh, PA, 1998.
26. Komornicki, A.; Fitzgerald, G. J. J. Chem. Phys. 1993, 98, 1398-1421 and references therein.
27. Scott, A. P.; Radom, L. J. Chem. Phys. 1996, 100, 16502-16513.
28. Champagne, B. Chem. Phys. Lett. 1996, 57, 261-265.
29. Humbert, C.; Buck, M.; Calderone, A.; Vigneron, J.-P.; Meunier, V.; Champagne, B.; Zheng, W.-Q.; Tadjeddine, A.; Thiry, P. A.; Peremans, A. Phys. Status Solidi A 1999, 175, 129-136.
30. Chang, S.-C.; Chao, I.; Tao, Y.-T. J. Am. Chem. Soc. 1994, 116, 6792-6805.
31. Kolega, R. R.; Schlenoff, J. B. Langmuir 1998, 14, 5469-5478.
32. Kim, C.; Sim, J. H.; Yan, X. M.; White, J.-M. Langmuir 2002, 18, 3159-3166.
33. Zhamikov, M.; Frey, E.; Rong, H.; Yang, Y.-J.; Heister, K.; Buck, M.; Grunze, M. Phys. Chem. Chem. Phys. 2000, 2, 3359-3362.