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Volumn 55, Issue 2 PART 1, 2009, Pages 799-802

Measurement of the BaTiO3 domain structure by using ultrahigh-vacuum atomic force microscopy (UHV-AFM)

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Domain; Ferroelectric; Nano scale

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EID: 70349320598     PISSN: 03744884     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.3938/jkps.55.799     Document Type: Article
Times cited : (10)

References (8)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.