Effects of layer thickness and annealing of PEDOT:PSS layers in organic photodetectors

Macromolecules

Volumn 42, Issue 17, 2009, Pages 6741-6747

  Friedel, Bettina ^a   Keivanidis, Panagiotis E ^a   Brenner, Thomas J K ^a   Abrusci, Agnese ^a   McNeill, Christopher R ^a   Friend, Richard H ^a   Greenham, Neil C ^a  

^a UNIVERSITY OF CAMBRIDGE   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ACTIVE LAYER; ANNEALING TEMPERATURES; CHEMICAL DECOMPOSITION; DEVICE PERFORMANCE; ETHYLENEDIOXYTHIOPHENES; EXTERNAL QUANTUM EFFICIENCY; IN-PLANE CONDUCTIVITY; LAYER THICKNESS; OPEN-CIRCUIT VOLTAGES; OPTIMUM PERFORMANCE; ORGANIC PHOTODETECTOR; PEDOT:PSS; PHOTOACTIVE MATERIALS; POLY(STYRENE SULFONIC ACID); SULFONIC ACID; THERMAL TREATMENT; THICKNESS VARIATION;

ANNEALING; ELECTRIC POTENTIAL; OPTOELECTRONIC DEVICES; ORGANIC POLYMERS; PHOTODETECTORS;

POLYMER BLENDS;

EID: 69549086303     PISSN: 00249297     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ma901182u     Document Type: Article

References (41)

1. Groenendaal, L.; Jonas, F.; Freitag, D.; Pielartzik, H.; Reynolds, J. R. Adv. Mater. 12, 481-494.
2. Nardes, A. M.; Kemerink, M.; de Kok, M.; Vinken, E.; Maturova, K.; Janssen, R. A. J. Org. Electron. 2008, 9, 727-734.
3. Jonas, F.; Heywang, G. J. Org. Electrochim, Acta 1994, 39, 1345-1347.
4. Jönsson, S. K. M.; Birgerson, J.; Crispin, X.; Greczynski, G.; Osikowicz, W.; Denier van der Gon, A. W.; Salaneck, W. R.; Fahlman, M. Synth. Met. 2003, 139, 1-10.
5. Hwang, J.; Amy, F.; Kahn, A. Org. Electron. 2006, 7, 387-396.
6. Kirchmeyer, S.; Reuter, K. J. Mater. Chem. 2005, 15, 2077-2088.
7. Crispin, X.; Marciniak, S.; Osikowicz, W.; Zotti, G.; Denier van der Gon, A. W.; Louwet, F.; Fahlman, M.; Groenendaal, L.; De Schryver, F.; Salaneck, W. R. J. Polvm. Sci., Part B: Polym. Phys. 2003, 41, 2561-2583.
8. Greczynski, G.; Kugler, T.; Keil, M.; Osikowicz, W.; Fahlman, M.; Salaneck, W. R. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2001, 121, 1-17.
9. Nardes, A. M.; Kemerink, M.; Janssen, R. A. J.; Bastiaansen, J. A. M.; Kiggen, N. M. M.; Langeveld, B. M. W.; van Breemen, A. J. J. M.; de Kok, M. M. Adv. Mater. 2007, 19, 1196-1200.
10. Pingree, L. S. C.; MacLeod, B. A.; Ginger, D. S. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 7922-7927.
11. (a) Fan, B.; Mei, X.; Ouyang, J. Macromolecules 2008, 41, 5971-5973.
12. (b) Huang, J.; Miller, P. F.; Wilson, J. S.; de Mello, A. J.; de Mello, J. C.; Bradley, D. D. C. Adv. Funct. Mater. 2005, 15, 290-296.
13. Kim, W. H.; Kushto, G. P.; Kim, H.; Kafafi, Z. H. J. Polym. Sci., Part B: Polym. Phys. 2003, 41, 2522-2528.
14. Yang, X. H.; Jaiser, F.; Stiller, B.; Neher, D.; Galbrecht, F.; Scherf, U. Agv- Funct. Mater. 2006, 16, 2156-2162.
15. Kim, Y.; Shin, M.; Kim, H. Macromol. Res. 2008, 16, 185-188.
16. Aasmundtveit, K. E.; Samuelsen, E. J.; Pettersson, L. A. A.; Inganas, O.; Johansson, T.; Feidenhans'l, R. Met. 1999, 101, 561-564.
17. Kim, Y.; Ballantyne, A. M.; Nelson, J.; Bradley, D. D. C. Org. Electron. 2009, 10, 205-209.
18. Nguyen, T. P.; Le Rendu, P.; Long, P. D.; De Vos, S. A. Surf. Coat. Technol. 2004, 180-181, 646-649.
19. Vitoratos, E.; Sakkopoulos, S.; Dalas, E.; Paliatsas, N.; Karageor-gopoulos, D.; Petraki, F.; Kennou, S.; Choulis, S. A. Org. Electron. 2009, 10, 61-66.
20. Friedel, B.; Brenner, T. J. K.; McNeill, C. R.; Greenham, N. C., to be published.
21. Keivanidis, P. E.; Howard, I. A.; Friend, R. H. Adv. Funct. Mater. 2008, 18, 3189-3202.
22. Keivanidis, P. E.; Greenham, N. C.; Sirringhaus, H.; Friend, R. H.; Blakesley, J. C.; Speller, R.; Agostinelli, T.; Campoy-Quiles, M.; Bradley, D. D. C.; Nelson, J. Appl. Phys. Lett. 2008, 92, 023304.
23. McNeill, C. R.; Halls, J. J. M.; Wilson, R.; Whiting, G. L.; Berkebile, S.; Ramsey, M. G.; Friend, R. H.; Greenham, N. C. Adv. Funct. Mater. 2008, 18, 2309-2321.
24. Li, Q.; Jonas, U.; Zhao, X. S.; Kappl, M. Asia-Pac. J. Chem. Eng. 2008, 3, 255-268.
25. Kralchevsky, P. A.; Denkov, N. D. Curr. Opin. Colloid Interface Sci. 2001, 6, 383-401.
26. Persson, N.-K.; Arwin, H.; Inganas, O. J. Appl. Phys. 2005, 97, 034503.
27. Mihailetchi, V. D.; Blom, P. W. M.; Hummelen, J. C.; Rispens, M. T. J. Appl. Phys. 2003, 94, 6849-6854.
28. Brabec, C. J.; Cravino, A.; Meissner, D.; Sariciftci, N. S.; Fromherz, T.; Rispens, M. T.; Sanchez, L.; Hummelen, J. C. Adv. Funct. Mater. 2005, 11, 374-380.
29. Khodabakhsh, S.; Sanderson, B. M.; Nelson, J.; Jones, T. S. Adv. Funct. Mater. 2006, 16, 95-100.
30. Han, M. G.; Foulger, S. H. Adv. Mater. 2004, 16, 231-234.
31. Kvarnström, C.; Neugebauer, H.; Blomquist, S.; Ahonen, H. J.; Kankare, J.; Ivaska, A. Electrochim. Acta 1999, 44, 2739-2750.
32. Cristovan, F. H.; Nascimento, C. M.; Bell, M. J. V.; Laureto, E.; Duarte, J. L.; Dias, I. F. L.; Cruz, W. O.; Marietta, A. Chem. Phys. 2006, 526, 514-520.
33. Neelgund, G. M.; Hrehorova, E.; Joyce, M.; Bliznyuk, V. Polym. Int. 2008, 57, 1083-1089.
34. Martins, C. R.; de Freitas, P. S.; De Paoli, M.-A. Polym. Bull. 2003, 49, 379-386.
35. Sun, B.;Zhao, Y.;Wu, J. G.; Yang, Q.-C; Xu, G.-X. J. Mol. Struct. 1998, 470, 63-66.
36. Chen, A. C.; Sun, S. G.; Yang, D. F.; Pettinger, B.; Lipkowski, J. Can. J. Chem. 1996, 74, 2321-2330.
37. Sheng, C.; Wenting, B.; Shijian, T.; Yuechuan, W. J. Appl. Polym. Sci. 2008, 109, 120-125.
38. Greczynski, G.; Kugler, T.; Salaneck, W. R. Thin Solid Films 1999, 354, 129-135.
39. Wilson, K.; Lee, A. F.; Macquarrie, D. J.; Clare, J. H. Appl. Catal., A 2002, 228, 127-133.
40. Kiebooms, R.; Aleshin, A.; Hutchison, K.; Wudl, F.; Heeger, A. Synth. Met. 1999, 101, 436-437.
41. Kemerink, M.; Timpanaro, S.; de Kok, M. M.; Meilenkamp, E. A.; Touwslager, F. J. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 18820-18825.