Erratum: Theoretical study of the electronic spectra of s -triazine vapour (Canadian Journal of Chemistry (2009) 87:8 (1148-1153): DOI: 10.1139/V09-084);Theoretical study of the electronic spectra of s-triazine vapour

Canadian Journal of Chemistry

Volumn 87, Issue 8, 2009, Pages 1148-1153

  Chong, Delano P ^a  

^a UNIVERSITY OF BRITISH COLUMBIA   (Canada)

Author keywords

Core electron binding energies; ESCA, DFT; Excitations; Ionizations; Photoelectron spectra; S triazine; Uv absorption, electron spectra

Indexed keywords

BINDING ENERGY; CALCULATIONS; ELECTRONS; IONIZATION; IONIZATION OF GASES; POLYOLS;

CORE ELECTRON BINDING ENERGIES; ELECTRON SPECTRUM; ESCA, DFT; EXCITATIONS; PHOTOELECTRON SPECTRUM; S-TRIAZINES;

PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

EID: 69149107419     PISSN: 00084042     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1139/cjc-2019-0215     Document Type: Erratum

References (36)

1. Fridh, C.; Åsbrink, L.; Jonsson, Ö.; Lindholm, E. Int. J. Mass Spectrom. Ion Phys. 1972, 8 (2), 85-99. doi: 10.1016/ 0020-7381(72)80001-80009
2. Gleiter, R.; Heilbronner, E.; Hornung, V. Helv. Chim. Acta 1972, 55, 28.
3. Robin, M. B.; Kueble, N. A.; Brundle, C. R. In Electron spectroscopy; Shirley, D.A., Ed.; North-Holland Publishing Co.: Amsterdam, 1972; p. 351.
4. Brundle, C. R.; Robin, M. B.; Kuebler, N. A. J. Am, Chem. Soc. 1972, 94 (5), 1466-1475. doi:10.1021/ja00760a008.
5. Brinen, J. S.; Goodman, L. J. Chem. Phys. 1961, 35 (4), 1219. doi: 10.1063/1.1732026.
6. Brinen, J. S.; Hirt, R. C.; Schmitt, R. G. Spectrochim. Acta [A] 1962, 18, 863.
7. Apen, E.; Hitchcock, A. P.; Gland, J. L. J. Phys. Chem. 1993, 97(26), 6859-6866. doi:10.1021/jl00128a019.
8. Duflot, D.; Sidhoum, K.; Flament, J.-P.; Giuliani, A.; Heinesch, J.; Hubin-Franskin, M.-J. Eur. Phys. J. D 2005, 35 (2), 239-248. doi: 10.1140/epjd/e2005-00193-6.
9. Vall-llosera, G.; Gao, B.; Kivimäki, A.; Coreno, M.; Alvarez Ruiz, J.; de Simone, M.; Agren, H.; Rachlew, E. J. Chem. Phys. 2008, 128 (4),o. 044316. doi: 10.1063/1.2822985. PMID: 18247958.
10. Pyckhout, W.; Callaerts, I.; van Alsenoy, C.; Geise, H. J.; Almenningen, A.; Seip, R. J. Mol. Struct. 1986, 147 (3-4), 321-329. doi: 10.1016/0022- 2860(86)80386-6.
11. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Montgomery, J. A., Jr.; Vreven, T.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.; Millam, J. M.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Klene, M.; Li, X.; Knox, J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Ayala, P. Y.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian 03, revision B.05; Gaussian, Inc.: Pittsburgh, PA, 2003.
12. Dunning, T. H. J. Chem. Phys. 1989, 90 (2), 1007. doi: 10. 1063/1.456153.
13. Chong, D. P. Mol. Phys. 2005, 103 (6), 749-761; note: the volume and page numbers of ref. 20 should read 34 and 31, respectively. doi:10.1080/ 00268970412331333618.
14. Chong, D. P. Chem. Phys. Lett. 2007, 441 (4-6), 209-212. doi:10.1016/j.cplett.2007.05.034.
15. ADF program system, release 2007.01; Scientific Computing & Modeling: NV, Amsterdam, 2006. For a comprehensive description of ADF, see: te Velde, G.; Bickelhaupt, F. M.; Baerends, E. J.; Fonseca Guerra, C.; van Gisbergen, S. J. A.; Snijders, J. G.; Ziegler, T. J. Comput. Chem. 2001, 22 (9), 931-967. doi:10.1002/jcc.l056.
16. Hu, C.-H.; Chong, D. P.; Casida, M. E. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1997, 85 (1-2), 39-46. doi: 1.0.1016/ S0368-2048(97)00037-6.
17. Chong, D. P.; Gritsenko, O. V.; Baerends, E. J. J. Chem. Phys. 2002, 116 (5), 1760. doi: 10.1063/1.1430255.
18. Segala, M.; Chong, D. P. J. Electron. Spectrosc Rel. Phenom. 2009, 171, 18-23.
19. Schipper, P. R. T.; Gritsenko, O. V.; van. Gisbergen, S. J. A.; Baerends, E. J. J. Chem. Phys. 2000, 112 (3), 1344. doi: 10. 1063/1.480688.
20. Griming, M.; Gritsenko, O. V.; van Gisbergen, S. J. A.; Baerends, E. J. J. Chem. Phys. 2001, 114 (2), 652. doi: 10. 1063/1.1327260.
21. Lindholm, E.; Asbrink, L. In Molecular orbitais and their energies, studied by the semiempirical HAM method; Springer-Verlag: Berlin, 1985.
22. Ridley, J.; Zerner, M. Theor. Chim. Acta 1973, 32 (2), 111134. doi:10.1007/BF00528484.
23. Prasad, R. S.; Rai, B. N. Theor. Chim. Acta 1990, 77 (5), 343-357. doi: 10.1007/BFO.l 120134.
24. Falzon, C. T.; Chong, D. P.; Wang, F. J. Comput. Chem. 2006, 27 (2), 163-173; note: the detail of ref. 41 should read "1978, private communication to C.W. Bauschlicher". doi:10.1002/jcc.20330. PMID:16312016.
25. Chong, D. P.; Takahata, Y. Chem. Phys. Lett. 2006, 418 (13), 286-291. doi:10.1016/j.cplett.2005.10.091.
26. Oddershede, J.; Gruner, N. E.; Diercksen, G. H. F. Chem. Phys. 1985, 97 (2-3), 303-310. doi: 10.1016/0301-0104(85) 87039-7.
27. Stahel, D.; Leoni, M.; Dressler, K. J. Chem. Phys. 1983, 79 (6), 25-41. doi:10.1063/1.446166.
28. Ben-Shlomo, S. B.; Kaldor, U. J. Chem. Phys. 1990, 92 (6), 3680. doi: 10.1063/1.457824.
29. Christiansen, O.; Koch, H.; Jorgensen, P.; Olsen, J. Chem. Phys. Lett. 1996, 256 (1-2), 185-194. doi:10.1016/00092614(96)00394-6.
30. Musiał M.; Meissner, L.; Kucharski, S. A..; Bartlett, R. J. J. Chem. Phys. 2005, 122 (22),o. 22411.0. doi: 10.1063/1. 1926278. PMID: 15974654.
31. Peach, M. J. G.; Benfield, P.; Helgaker, T.; Tozer, D. J. J. Chem. Phys. 2008, 128 (4),o. 044118. doi: 10.1063/1. 2831900. PMID: 18247941.
32. Musial, M.; Bartlett, R. J. Chem. Phys. Lett. 2008, 457 (1-3), 267-270. doi: 10.1016/j.cplett.2008.04.004.
33. Musial, M.; Bartlett, R. J. J. Chem. Phys. 2008, 129 (24),o. 244111. doi:10.1063/1.3046453. PMID: 19123499.
34. Berstein, E. R.; Smalley, R. E. J. Chem. Phys. 1973, 58 (6), 2197. doi:10.1063/l.1679493.
35. Takahata, Y.; Chong, D. P. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2003, 133 (1-3), 69-76; and references therein. doi:10.1016/j.elspec.2003.08.001.
36. Chong, D. P. J. Electron Spectrsoc. Rel. Phenom. 2007, 159 (1-3), 94-96. doi:10.1016/j.elspec.2007.01.005.