Invariant features for classification of defects based on illumination series;Invariante Merkmale zur Klassifikation von Defekten aus Beleuchtungsserien

Technisches Messen

Volumn 75, Issue 7-8, 2008, Pages 455-463

  Grassi, Ana Pérez ^a   Leon, Fernando Puente ^a  

^a TECHNICAL UNIVERSITY OF MUNICH   (Germany)

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AUTOMATED INSPECTION; CLASSIFICATION OF DEFECTS; ILLUMINATION SERIES; INVARIANT FEATURES; ROBUST PERFORMANCE; ROTATION INVARIANT FEATURES; SVM(SUPPORT VECTOR MACHINE); VARIABLE ILLUMINATION;

GRAPHIC METHODS; VARNISH;

SUPPORT VECTOR MACHINES;

EID: 67949123196     PISSN: 01718096     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1524/teme.2008.0887     Document Type: Article

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