Observation of glassy ferromagnetism in al-doped 4H-SiC

Journal of the American Chemical Society

Volumn 131, Issue 4, 2009, Pages 1376-1377

  Song, Bo ^a,b   Bao, Huiqiang ^a   Li, Hui ^a   Lei, Ming ^a   Peng, Tonghua ^a   Jian, Jikang ^c   Liu, Jun ^a   Wang, Wanyan ^a   Wang, Wenjun ^a   Chen, Xiaolong ^a  

^a INSTITUTE OF PHYSICS   (China)

^b HARBIN INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (China)

^c XINJIANG UNIVERSITY   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

DILUTED MAGNETIC SEMICONDUCTORS; INTRINSIC FERROMAGNETISM; NONMAGNETIC; STRUCTURAL DEFECT;

ALUMINUM; MAGNETIC SEMICONDUCTORS; SEMICONDUCTING SILICON COMPOUNDS; SILICON CARBIDE;

FERROMAGNETISM;

ALUMINUM; FERROMAGNETIC MATERIAL; SILICON;

ARTICLE; CHEMICAL BOND; MAGNETISM; MASS SPECTROMETRY; RAMAN SPECTROMETRY; SEMICONDUCTOR; X RAY DIFFRACTION;

EID: 67749088353     PISSN: 00027863     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ja808507f     Document Type: Article

References (29)

1. Ando, K. Science 2006, 312, 1883.
2. (a) Ohldag, H.; Tyliszczak, T.; Hohne, R.; Spemann, D.; Esquinazi, P.; Ungureanu, M.; Butz, T. Phys. Rev. Lett. 2007, 98, 187204.
3. (b) Andriotis, A. N.; Menon, M.; Sheetz, R. M.; Chernozatonskii, L. Phys. Rev. Lett. 2003, 90, 026801.
4. (c) Esquinazi, P.; Setzer, A.; Hohne, R.; Semmelhack, C.; Kopelevich, Y.; Spemann, D.; Butz, T.; Kohlstrunk, B.; Losche, M. Phys. Rev.B 2002, 66, 024429.
5. (d) Yazyev, O. V.; Helm, L. Phys. Rev.B 2007, 75, 125408.
6. (e) Kim, Y. H.; Choi, J.; Chang, K. J.; Tománek, D. Phys. Rev.B 2003, 68, 125420.
7. (f) Rode, A. V.; Gamaly, E. G.; Christy, A. G.; Fitz Gerald, J. G.; Hyde, S. T.; Elliman, R. G.; Luther-Davies, B.; Veinger, A. I.; Androulakis, J.; Giapintzakis, J. Phys. Rev. B 2004, 70, 054407.
8. Dev, P.; Xue, Y.; Zhang, P. H. Phys. Rev. Lett. 2008, 100, 117204.
9. Song, B.; Jian, J. K.; Li, H.; Lei, M.; Bao, H. Q.; Chen, X. L.; Wang, G. Phys. B 2008, 403, 2897.
10. Burton, J. C.; Sun, L.; Long, F. H.; Feng, Z. C.; Ferguson, I. T. Phys. Rev. B 1999, 59, 7282.
11. (a) Dhar, S.; Brandt, O.; Trampert, A.; Friedland, K. J.; Sun, Y. J.; Ploog, K. H. Phys. Rev. B 2003, 67, 165205.
12. (b) Song, B.; Jian, J. K.; Bao, H. Q.; Lei, M.; Li, H.; Wang, G.; Xu, Y. P.; Chen, X. L. Appl. Phys. Lett. 2008, 92, 192511.
13. (a) Wu, J.; Leighton, C. Phys. Rev. B 2003, 67, 174408.
14. (b) Freitas, R. S.; Ghivelder, L.; Damay, F.; Dias, F.; Cohen, L. F. Phys. Rev. B 2001, 64, 144404.
15. (c) Feng, W. J.; Li, D.; Ren, W. J.; Li, Y. B.; Li, W. F.; Li, J.; Zhang, Y. Q.; Zhang, Z. D. Phys. Rev. B 2006, 73, 205105.
16. Makarova, T. L.; Sundqvist, B.; Hohne, R.; Esquinazi, P.; Kopelevich, Y.; Scharff, P.; Davydov, V. A.; Kashevarova, L. S.; Rakhmanina, A. V. Nature 2001, 413, 716.
17. Dietl, T.; Ohno, H.; Matsukura, F; Cibert, J; Ferrand, D. Science 2000, 287, 1019.
18. (a) Kaminski, A.; Sarma, S. D. Phys. Rev. Lett. 2002, 88, 247202.
19. (b) Coey, J. M. D.; Venkatesan, M.; Fitzgerald, C. B. Nat. Mater. 2005, 4, 173.
20. Millis, A. J. Nature 1998, 392, 147.
21. (a) Bryan, J. D.; Santangelo, S. A.; Keveren, S. C.; Gamelin, D. R. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 15568.
22. (b) Archer, P. A.; Radovanovic, P. V.; Heald, S. M.; Gamelin, D. R. J. Am. Chem. Soc. 2005, 1027, 14479.
23. (c) Radovanovic, P. V.; Norberg, N. S.; McNally, K. E.; Gamelin, D. R. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 15192.
24. (d) Bryan, J. D.; Heald, S. M.; Chambers, S. A.; Gamelin, D. R. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 11640.
25. (e) Kaspar, T. C.; Heald, S. M.; Wang, C. M.; Bryan, J. D.; Droubay, T.; Shutthanandan, V.; Thevuthasan, S.; McCready, D. E.; Kellock, A. J.; Gamelin, D. R.; Chambers, S. A. Phys. Rev. Lett. 2005, 95, 217203.
26. (f) Venkatesan, M.; Fitzgerald, C. B.; Coey, J. M. D. Nature 2004, 430, 630.
27. (g) Pan, F.; Song, C.; Liu, X. J.; Yang, Y. C.; Zeng, F. Mater. Sci. Eng. R 2008, 62,1.
28. (h) Song, C.; Pan, S. N.; Liu, X. J.; Li, X. W.; Zeng, F.; Yan, W. S.; He, B.; Pan, F. J. Phys.: Condens. Matter 2007, 19, 176229.
29. (i) Behan, A. J.; Mokhtari, A.; Blythe, H. J.; Score, D.; Xu, X. H.; Neal, J. R.; Fox, A. M.; Gehring, G. A. Phys. Rev. Lett. 2008, 100, 047206.