Minimum enhancement of surface-enhanced Raman scattering for single-molecule detections

Journal of Physical Chemistry A

Volumn 113, Issue 30, 2009, Pages 8529-8532

  Gu, Geun Hoi ^a   Suh, Jung Sang ^a  

^a Seoul National University   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ANODIC ALUMINUM OXIDE TEMPLATE; CONCENTRATION OF; DETECTION LIMITS; ENHANCEMENT FACTOR; NONRESONANT; SERS ENHANCEMENT; SHALLOW DEPTHS; SILVER NANOROD ARRAYS; SILVER NANORODS; SINGLE-MOLECULE DETECTION; SURFACE-ENHANCED RAMAN SCATTERING;

ALUMINA; MOLECULES; NANORODS; SILVER; SURFACES;

RAMAN SCATTERING;

NANOTUBE; SILVER;

ARTICLE; CHEMISTRY; METHODOLOGY; NANOTECHNOLOGY; PARTICLE SIZE; RAMAN SPECTROMETRY; SURFACE PROPERTY; ULTRASTRUCTURE;

NANOTECHNOLOGY; NANOTUBES; PARTICLE SIZE; SILVER; SPECTRUM ANALYSIS, RAMAN; SURFACE PROPERTIES;

EID: 67651174472     PISSN: 10895639     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp902714t     Document Type: Article

References (32)

1. Cao, Y. C.; Jin, R.; Mirkin, C. A. Science 2002, 297, 1536.
2. Shafer-Peltier, K. E.; Haynes, C. L.; Glucksberg, M. R.; Van Duyne, R. P. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 588.
3. Grubisha, D. S.; Lipert, R. J.; Park, H. Y.; Driskell, J. D.; Porter, M. Anal. Chem. 2003, 75, 5936.
4. Nam, J. M.; Stoeva, S. I.; Mirkin, C. A. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 5932.
5. Lyandres, O.; Shah, N. C.; Yonzon, C. R.; Walsh, J. T., Jr.; Gluckberg, M. R.; Van Duyne, R. P. Anal. Chem. 2005, 77, 6134.
6. Kneipp, J.; Kneipp, H.; Rice, W. L.; Kneipp, K. Anal. Chem. 2005, 77, 2381.
7. Grudisha, D. S.; Lipert, R. J.; Park, H. Y.; Driskell, J.; Porter, M. D. Anal. Chem. 2003, 75, 5936.
8. Premasiri, W. R.; Moir, D. T.; Klempner, M. S.; Krieger, N.; Jones, G.; Ziegler, L. D. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 312.
9. Nie, S.; Emory, S. R. Science 1997, 275, 1102.
10. Kneipp, K.; Wang, Y.; Kneipp, H.; Perlman, L. T.; Itzkan, I.; Dasari, R. R.; Feld, M. S. Phys. Rev. Lett. 1997, 78, 1667.
11. Kneipp, K.; Kneipp, H.; deinum, G.; Itzkan, I.; Dasari, R. R.; Feld, M. S. Appl. Spectrosc. 1998, 52, 175.
12. Kneipp, K.; Kneipp, H.; Kartha, V. B.; Manoharan, R.; Deinum, G.; ltzhan, I.; Dasari, R. R.; Feld, M. S. Phys. Rev. E 1998, 57, R6281.
13. Svedberg, F.; Li, Z.; Xu, H.; Klall, H. Nano Lett. 2006, 6, 2639.
14. Habuchi, S.; Cotlet, M.; Gronheid, R.; Drix, G.; Michiels, J.; Vanderleyden, J.; De Schryver, F. C.; Hofkens, J. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 8446.
15. Le Ru, E. C.; Meyer, M.; Etchegoin, P. G. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 1944.
16. Kerker, M.; Wang, D. S.; Chew, H. Appl. Opt. 1980, 19, 4159.
17. Bjerneld, E. J.; Svedberg, F.; Johansson, P.; Kail, M. J. Phys. Chem. A 2004, 108, 4187.
18. Le Ru, E. C.; Etchegoin, P. G.; Meyer, M. J. Chem. Phys. 2006, 125, 13.
19. Johansson, P.; Xu, H. X.; Kall, M. Phys. Rev. B 2005, 72, 17.
20. Markel, V. A.; Shalaev, V. M.; Zhang, P.; Huynh, W.; Tay, L.; Haslett, T. L.; Moskovits, M. Phys. Rev. B 1999, 59, 10903.
21. Fang, Y.; Seong, N. H.; Dlott, D. D. Science 2008, 321, 388.
22. Constantino, C. J. L.; Lemma, T.; Antunes, P. A.; Aroca, R. Anal. Chem. 2001, 73, 3674.
23. Gu, W.; Choi, H.; Kim, K. J. Phys. Chem. A 2007, 111, 8121.
24. Jensen, L.; Schatz, G. C. J. Phys. Chem. A 2006, 110, 5973.
25. Gu, G. H.; Kim, J. R.; Kim, L.; Suh, J. S. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 7906.
26. Sauer, G.; Brehm, G.; Schneider, S.; Graener, H.; Seifert, G.; Nielsch, K.; Choi, J.; Gosele, U.; Miclea, P.; Wehrspohn, R. B. J. Appl. Phys. 2005, 97, 024308.
27. Wang, H. H.; Liu, C. Y.; Wu, S. B.; Peng, C. Y.; Chan, T. H.; Hsu, C. F.; Wang, J. K.; Wang, Y. L. Adv. Mater. 2006, 18, 491.
28. Lee, S. J.; Morrill, A. R.; Moskovits, M. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 2200.
29. Gu, G. H.; Suh, J. S. Langmuir 2008, 24, 8934.
30. Zong, R. L.; Zhou, J.; Li, Q.; Du, B.; Li, B.; Fu, M.; Qi, Z.; Li, L.; Buddhudu, S. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 16713.
31. Osawa, M.; Matsuda, N.; Yoshii, K.; Uchida, I. J. Phys. Chem. 1994, 98, 12702.
32. Ruths, M. Langmuir 2003, 19, 6788.