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Journal of Materials Science: Materials in Electronics

Volumn 20, Issue 8, 2009, Pages 718-726

Al doping effect on microstructure, electrical properties, dielectric characteristics, and aging behaviors of ZPCCY-based varistors

(1) Nahm, Choon W a

a Dong Eui University (South Korea)

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ACCELERATED AGING; ADDITION OF AL; AGING BEHAVIOR; AL-DOPING; BREAKDOWN ELECTRIC FIELD; DIELECTRIC CHARACTERISTICS; E-J CHARACTERISTICS; ELECTRICAL PROPERTY; ELECTRICAL STABILITY; ELECTRON CONCENTRATION; NONLINEAR COEFFICIENT; NONLINEAR PROPERTIES;

ELECTRIC FIELDS; ELECTRIC PROPERTIES; MICROSTRUCTURE; VARISTORS;

ALUMINUM;

EID: 67349138834 PISSN: 09574522 EISSN: 1573482X Source Type: Journal
DOI: 10.1007/s10854-008-9793-z Document Type: Article

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