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Volumn 2, Issue 5, 2008, Pages 699-704

Features of sample preparation and atomic force microscopy study of dispersed nanomaterials

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EID: 67149107101     PISSN: 10274510     EISSN: 18197094     Source Type: Journal    
DOI: 10.1134/S1027451008050066     Document Type: Article
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References (20)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.