Impact of junction formation method and surface roughness on single molecule conductance

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 113, Issue 14, 2009, Pages 5823-5833

  Haiss, Wolfgang ^a   Martín, Santiago ^a   Leary, Edmund ^a   Van Zalinge, Harm ^a   Higgins, Simon J ^a   Bouffier, Laurent ^a   Nichols, Richard J ^a  

^a UNIVERSITY OF LIVERPOOL   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ATOMIC STRUCTURES; CONDUCTANCE MEASUREMENTS; CONTACT GEOMETRIES; CONTACT MORPHOLOGIES; EXPERIMENTAL METHODS; EXPERIMENTAL STUDIES; FLAT SURFACES; GAP SEPARATIONS; GOLD ELECTRODES; JUNCTION FORMATIONS; MATRIX ISOLATIONS; MODEL SYSTEMS; MOLECULAR CONDUCTANCES; MOLECULAR CONFORMATIONS; SINGLE MOLECULE CONDUCTANCES; SUBSTRATE SURFACES; SURFACE AREAS;

ADSORPTION; MOLECULAR ELECTRONICS; SELF ASSEMBLED MONOLAYERS; SURFACE ROUGHNESS; SURFACE STRUCTURE;

MOLECULES;

EID: 65249143379     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp811142d     Document Type: Article

References (36)

1. Gray, H. B.; Winkler, J. R. Proc. Nat. Acad. Sci. 2005, 102, 3534-3539.
2. Newton, M. D.; Smalley, J. F. Phys. Chem. Chem. Phys. 2007, 9, 555-572.
3. Wang, W. Y.; Lee, T.; Reed, M. A. Rep. Prog. Phys. 2005, 68, 523-544.
4. Reed, M. A.; Zhou, C.; Muller, C. J.; Burgin, T. P.; Tour, J. M. Science 1997, 278, 252-254.
5. Weber, H. B.; Reichert, J.; Weigend, F.; Ochs, R.; Beckmann, D.; Mayor, M.; Ahlrichs, R.; von Lohneysen, H. Chem. Phys. 2002, 281, 113-125.
6. Lortscher, E.; Weber, H. B.; Riel, H. Phys. Rev. Lett. 2007, 98,
7. Engelkes, V. B.; Beebe, J. M.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 14287-14296.
8. Cui, X. D.; Zarate, X.; Tomfohr, J.; Sankey, O. F.; Primat A.; Moore, A. L.; Moore, T. A.; Gust, D.; Harris, G.; Lindsay, S. M. Nanotechnology 2002, 13, 5-14.
9. Cui, X. D.; Primak, A.; Zarate, X.; Tomfohr, J.; Sankey, O. F.; Moore, A. L.; Moore, T. A.; Gust, D.; Harris, G.; Lindsav. S. M. Science 2001, 294, 571-574.
10. Monta, T.; Lindsay, S. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 7262-7263.
11. Xu, B. Q.; Tao, N. J. J. Science 2003, 301, 1221-1223.
12. Haiss, W.; van Zalinge. H.; Higgins, S. J.; Bethell. D.; Hobenreich, H.; Schiffrin, D. J.; Nichols, R. J. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 15294-15295.
13. Haiss, W.; Nichols, R. J.; Higgins, S. J.; Bethell, D.; Hobenreich, H.; Schiffrin, D. J. Faraday Discuss. 2004, 125, 179-194.
14. Haiss, W.; Nichols, R. J.; van Zalinge, H.; Higgins, S. J.; Bethell, D.; Schiffrin, D. J. Phys. Chem. Chem. Phys. 2004, 6. 4330-4337.
15. Li, X. L.; He, J.; Hihath, J.; Xu, B. Q.; Lindsay, S. M.; Tao, N. J. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 2135-2141.
16. Li, C.; Pobelov, L; Wandlowski, T.; Bagrets, A.; Arnold, A.; Evers, F. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 318-326.
17. Omori, Y.; Tobita. J.; Kato, Y.: Akiba. U.: Fujihira, M. Jpn. J. Appl. Phys. 2007, 46, 7829-7837.
18. Nishikawa, A.; Tobita, J.; Kato, Y.; Fujii, S.; Suzuki, M.; Fujihira, M. Nanotechnology 2007, 18, 424005-424015.
19. Weibel, N.; Blaszczyk. A.; von Haenisch. C.; Mayor. M.; Pobelov. I.; Wandlowski, T.; Chen, F.; Tao, N. J. Eur. J. Org. Chem. 2008, 136-149.
20. Venkataraman, L.; Klare, J. E.; Tam, I. W.; Nuckolls, C.; Hybertsen, M. S.; Steigerwald, M. L. Nano Lett. 2006, 6. 458-462.
21. Jiang, J.; Kula, M.; Luo, Y. J. Chem. Phys. 2006, 124.
22. Sek. S.; Misicka, A.; Swiatek. K.; Maicka, E. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 19671-19677.
23. Wierzbinski, E.; Slowinski, K. Langmuir 2006, 22, 5205-5208.
24. Suzuki. M.; Fujii. S.; Fujihira. M. Jpn. J. Appl. Phys. 2006, 45, 2041-2044.
25. Li, X. L.; Hihath, J.; Chen, F.; Masuda, T.; Zang, L.: Tao. N. J. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 11535-11542.
26. He, J.; Chen, F.; Li, J.; Sankey, O. F.; Terazono, Y.; Herrero, C.; Gust, D.: Moore, T. A.: Moore, A. L.: Lindsay, S. M. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 1384-1385.
27. Jang, S. Y.; Reddy, P.; Majumdar, A.; Segalman, R. A. Nano Lett. 2006, 6, 2362-2367.
28. Ren, B.; Picardi, G.; Pettinger, B. Rev. Sci. lnstrum. 2004, 75, 837-841.
29. Bethell. D.; Burst, M.; Schriffin. D. J.; Kiely, C. J. EIectroanal. Chem. 1996, 409, 137-143.
30. Beebe, J. M.; Kim, B.; Frisbie, C. D.; Kushmerick, J. G. ACS Nano 2008, 2, 827-832.
31. Tomfohr, J. K.; Sankey, O. F. Phys. Rev. B 2002, 65.
32. Akkerman, H. B.; Blom, P. W. M.; de Leeuw, D. M.; de Boer, B. Nature 2006, 441, 69-72.
33. Haiss, W.; Wang, C.; Grace, L; Batsanov, A. S.; Schiffrin, D. J.; Higgins, S. J.: Bryce, M. R.; Lambert, C. J.; Nichols, R. J. Nature Mat. 2006, 5, 995-1002.
34. Seminario, J. M.; Yan, L. M. Int. J. Quantum Chem. 2005, 102. 711-723.
35. Jiang, J.; Lu, W.; Luo, Y. Chem. Phys. Lett. 2004, 400, 336-340.
36. Lee, M. H.; Speyer, G.; Sankey, O. F. Phys. Status Solidi B 2006, 243, 2021-2029.