Electric susceptibility of sodium-doped water clusters by beam deflection

Journal of Physical Chemistry A

Volumn 113, Issue 12, 2009, Pages 2711-2714

  Carrera, Álvaro ^a   Mobbili, Marcos ^a   Marceca, Ernesto ^a  

^a Instituto de Quimica Fisica de los Materiales Medio Ambiente y Energia   (Argentina)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BEAM DEFLECTIONS; ELECTRIC DEFLECTIONS; ELECTRIC SUSCEPTIBILITIES; GLOBAL SHIFTS; HIGH-FIELD REGIONS; INTENSITY PROFILES; POLARIZABLE PARTICLES; PURE WATERS; WATER CLUSTERS; WATER MOLECULES;

SODIUM;

EID: 63849186079     PISSN: 10895639     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp809411p     Document Type: Article

References (39)

1. Broyer, M.; Antoine, R.; Benichou, E.; Compagnon, I.; Dugourd, Ph. C. R. Phys. 2002, 3, 301, and references cited therein.
2. Broyer, M.; Antoine, R.; Compagnon, I.; Rayane, D.; Dugourd, Ph. hys. Scr. 2007, 76, C135, and references cited therein.
3. Compagnon, I.; Antoine, R.; Rayane, D.; Broyer, M.; Dugourd, Ph. Phys. Rev. Lett. 2002, 89, 253001.
4. Antoine, R.; Compagnon, I.; Rayane, D.; Broyer, M.; Dugourd, Ph.; Breaux, G.; Hagemeister, F. C; Pippen, D.; Hudgins, R. R.; Jarrold, M. F. Eur. Phys. J. D 2002, 20, 583.
5. Moro, R.; Rabinovitch, R.; Xia, C; Kresin, V. V. Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 123401.
6. Hertel, I. V.; Hiiglin, C; Nitsch, C; Schulz, C. P. Phys. Rev. Lett. 1991, 67, 1767.
7. Schulz, C. P.; Bobbert, C; Shimosato, T.; Daigoku, K.; Miura, N.; Hashimoto, K. J. Chem. Phys. 2003, 119, 11620.
8. Steinbach, C; Buck, U. J. Phys. Chem. A 2006, 110, 3128.
9. Barnett, R. N.; Landman, U. Phys. Rev. Lett. 1993, 70, 1775.
10. Tsurusawa, T.; Iwata, S. J. Phys. Chem. A 1999, 103, 6134.
11. Ferro, Y.; Allouche, A. J. Chem. Phys. 2003, 118, 10461.
12. Gao, B.; Liu, Z. F. J. Chem. Phys. 2007, 126, 084501.
13. Buck, U.; Dauster, I.; Gao, B.; Liu, Z.-f. J. Phys. Chem. A 2007, 111, 12355.
14. Bobbert, C; Schulz, C. P. Eur. Phys. J. D 2001, 16, 95.
15. Steinbach, C; Buck, U. J. Chem. Phys. 2005, 122, 134301.
16. Bewig, L.; Buck, U.; Rakowswsky, S.; Reymann, M.; Steinbach, C. J. Phys. Chem. A. 1998, 102, 1124.
17. Ramsey, N. F. Molecular beams; Clarendon Press: Oxford, UK, 1956, and references therein.
18. Aroney, M. J.; Pattern, S. J. J. Chem. Soc, Faraday Trans. 1984, 80, 1201.
19. Schäfer, S.; Heiles, S.; Becker, J. A.; Schafer, R. J. Chem. Phys. 2008, 129, 044304.
20. Rost, J. M.; Griffin, J. C; Friedrich, B.; Herschbach, D. R. Phys. Rev. Lett. 1992, 68, 1299.
21. Benichou, E.; Allouche, A. R.; Antoine, R.; Aubert-Frecon, M.; Bourgoin, M.; Broyer, M.; Dugourd, Ph.; Hadinger, G.; Rayane, D. Eur. Phys. J. D 2000, 10, 233.
22. Dugourd, Ph.; Compagnon, I.; Lepine, F.; Antoine, R.; Rayane, D.; Broyer, M. Chem. Phys. Lett. 2001, 336, 511.
23. Bulthuis, J.; Becker, J. A.; Moro, R.; Kresin, V. V. J. Chem. Phys. 2008, 129, 024101.
24. Abd El Rahim, M.; Antoine, R.; Broyer, M.; Rayane, D.; Dugourd, Ph. J. Phys. Chem. A 2005, 109, 8507.
25. Dugourd, Ph.; Antoine, R.; Abd El Rahim, M.; Rayane, D.; Broyer, M.; Calvo, F. Chem. Phys. Lett. 2006, 423, 13.
26. Compagnon, I.; Antoine, R.; Rayane, D.; Broyer, M.; Dugourd, Ph. J. Phys. Chem. A 2003, 107, 3036.
27. Carrena, Á.; Mobbili, M.; Moriena, G.; Marceca, E. Chem. Phys. Lett. 2008, 467, 14.
28. Schäfer, S.; Schäfer, R. Phys. Rev. B 2008, 77, 205211.
29. Kittel, C. Introduction to Solid State Physics, 3rd ed.; Wiley: New York, 1967.
30. Farley, F. W.; McClelland, G. M. Science 1990, 247, 1572.
31. Rayane, D.; Antoine, R.; Dugourd, Ph.; Benichou, E.; Allouche, A. R.; Aubert-Frécon, M.; Broyer, M. Phys. Rev. Lett. 2000, 84, 1962.
32. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Zakrzewski, V. G.; Montgomery, J. A., Jr.; Stratmann, R. E.; Burant, J. C; Dapprich, S.; Millam, J. M.; Daniels, A. D.; Kudin, K. N.; Strain, M. C; Farkas, O.; Tomasi, J.; Barone, V.; Cossi, M.; Cammi, R.; Mennucci, B.; Pomelli, C; Adamo, C; Clifford, S.; Ochterski, J.; Petersson, G. A.; Ayala, P. Y.; Cui, Q.; Morokuma, K.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Cioslowski, J.; Ortiz, J. V.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Gomperts, R.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Gonzalez, C; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B. G.; Chen, W.; Wong, M. W.; Andres, J. L.; Head-Gordon, M.; Replogle, E. S.; Pople, J. A. Gaussian 98; Gaussian, Inc.: Pittsburgh, PA, 1998.
33. Sadlej, A. J. Collect. Czech. Chem. Commun. 1988, 53, 1995.
34. Ekstrom, C. R.; Schmiedmayer, J.; Chapman, M. S.; Hammond, T. D.; Pritchard, D. E. Phys. Rev. A 1995, 51, 3883.
35. Yang, M.; Senet, P.; Van Alsenoy, C. Int. J. Quantum Chem. 2005, 101, 535.
36. Ghanty, T. K.; Ghosh, S. K. J. Chem. Phys. 2003, 118, 8547.
37. Rodriguez, J.; Laria, D.; Marceca, E.; Estrin, D. J. Chem. Phys. 1999, 110, 9039.
38. Klots, C. E. J. Phys. Chem. 1988, 92, 5864.
39. Hashimoto, K.; Morokuma, K. J. Am. Chem Soc. 1994, 116, 11436.