PrAlO3-PrAl11O18 eutectic: Its microstructure and spectroscopic properties

Crystal Growth and Design

Volumn 8, Issue 4, 2008, Pages 1243-1249

  Pawlak, Dorota A ^a   Kolodziejak, Katarzyna ^b   Rozniatowski, Krzysztof ^b   Diduszko, Ryszard ^a   Kaczkan, Marcin ^b   Malinowski, Michal ^b   Piersa, Miroslaw ^a   Kisielewski, Jaroslaw ^a   Lukasiewicz, Tadeusz ^a  

^a Department of Micro and Nanotechnology of Wide Bandgap Semiconductors   (Poland)

^b WARSAW UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Poland)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 61549098407     PISSN: 15287483     EISSN: 15287505     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/cg0609522     Document Type: Article

References (46)

1. Glazer, A. M. Acta Crystallogr. B 1972, 28, 3384.
2. Glazer, A. M. Acta Crystallogr. A 1975, 31, 3384.
3. Howard, C. J.; Kennedy, B. J.; Chakoumakos, B. C. J. Phys.: Condens. Matter 2000, 12, 349.
4. Howard, C. J.; Stokes, H. Acta Crystallogr. B. Struct. Sci. 1998, 54, 782.
5. Cohen, E.; Risberg, L. A.; Nordland, W. A.; Burbank, R. D.; Sherwood, R. C.; Van Uitert, L. G. Phys. Rev. 1969, 186, 476.
6. Burbank, R. D. J. Appl. Crystallogr. 1970, 3, 112.
7. Harley, R. T.; Hayes, W.; Perry, A. M.; Smith, S. R. P. J. Phys. C, 1973, 6, 2382.
8. Birgeneau, R. J.; Kjems, J. K.; Shirane, G.; Van Uitert, L. G. Phys. Rev. B 1974, 10, 2512.
9. Lyons, K. B.; Birgeneau, R. J.; Blount, E. I.; Van Uitert, L. G. Phys. Rev. B 1975, 11, 891.
10. Kjems, J. K.; Shirane, G.; Birgeneau, R. J.; Van Uitert, L. G. Phys. Rev. Lett. 1973, 31, 1300.
11. Moussa, S. M.; Kennedy, B. J.; Hunter, B. A.; Howard, C. J.; Vogt, T. J. Phys.: Condens. Matter 2001, 13, L203.
12. Kennedy, B. J.; Prodjostanoso, A. K.; Howard, C. J. J. Phys.: Condens. Matter 1999, 11, 6319.
13. Kennedy, B. J.; Vogt, T.; Martin, C. D.; Parise, J. B.; Hriljac, J. A. Chem. Mater. 2002, 14, 2644.
14. Howard, C. J.; Kennedy, B. J.; Chakoumakos, B. C. J. Phys.: Condens. Matter 2000, 12, 349.
15. Carpenter, M. A.; Howard, C. J.; Kenned, B. J.; Knight, K. S. Phys. Rev.B 2005, 72, 024118.
16. Watanabe, S.; Hidaka, M.; Yoshizawa, H.; Wanklyn, B. M. Phys. Status Solidi B 2006, 243, 424.
17. Fleury, P. A.; Lazay, P. D.; Van Uitert, L. G. Phys. Rev. Lett. 1974, 33, 492.
18. Harley, R. T. J. Phys. C, Solid State Phys. 1977, 10, L205.
19. Kim, C. H.; Cho, S. Y.; Kim, I. T.; Cho, W. J.; Hong, K. S. Mater. Res. Bull. 2001, 36, 1561.
20. Pawlak, D. A.; Lukasiewicz, T.; Carpenter, M.; Malinowski, M.; Diduszko, R.; Kisielewski, J. J. Cryst. Growth 2005, 282, 260.
21. Mizuno, M.; Yamada, T.; Noguchi, T. Nagoya Kogyo Gijutsu Shikensho Hokoku, 1978, 27, 45.
22. Wu, P.; Pelton, A. D. J. Alloys Compd. 1992, 179, 259.
23. Pawlak, D. A.; Kolodziejak, K.; Diduszko, R.; Rozniatowski, K.; Kaczkan, M.; Malinowski, M.; Kisielewski, J.; Lukasiewicz, T. Chem. Mater. 2007, 19, 2195.
24. Pawlak, D. A.; Lerondel, G.; Dmitruk, I.; Kagamitani, Y.; Durbin, S.; Fukuda, T. J. Appl. Phys. 2002, 91, 9731.
25. Merino, R. I.; Pena, J. I.; Larrea, A.; de la Fuente, G. F.; Orera, V. M. Recent Res. Dev. Mater. Sci. 2003, 4, 1.
26. Pawlak, D. A.; Kolodziejak, K.; Turczynski, S.; Kisielewski, J.; Rozniatowski, K.; Diduszko, R. Chem. Mater. 2006, 18, 2450.
27. Yoon, D. H.; Yonenaga, I.; Ohnishi, N.; Fukuda, T. J. Cryst. Growth 1994, 142, 339.
28. Yu, Y. M.; Chani, V. I.; Shimamura, K.; Inaba, K.; Fukuda, T. J. Cryst. Growth 1997, 177, 74.
29. Pawlak, D. A.; Kagamitani, Y.; Yoshikawa, A.; Wozniak, K.; Sato, H.; Machida, H.; Fukuda, T. J. Cryst. Growth 2001, 226, 341.
30. Rudolf, P.; Fukuda, T. Cryst. Res. Technol. 1999, 34, 3.
31. Lee, J. H.; Yoshikawa, A.; Kaiden, H.; Lebbou, K.; Fukuda, T.; Yoon, D. H.; Waku, Y. J. Cryst. Growth 2001, 231, 179.
32. Lee, J. H.; Yoshikawa, A.; Durbin, S. D.; Yoon, D. H.; Fukuda, T.; Waku, Y. J. Cryst. Growth 2001, 222, 791.
33. Yoshikawa, A.; Hasegawa, K.; Lee, J. H.; Durbin, S. D.; Epelbaum, B. M.; Yoon, D. H.; Fukuda, T.; Waku, Y. J. Cryst. Growth 2000, 218, 67.
34. Kolodziejak, K.; Turczynski, S.; Diduszko, R.; Klimek, L.; Pawlak, D. A. Optoelectr. Rev. 2006, 14, 203.
35. Young, R. A. J. Appl. Crystallogr. 1995, 28, 366.
36. Wejrzanowski, T.; Bucki, J. J. MICROMETER 0.99b-Computer Program for Image Analysis. From Wejrzanowski, T. Computer based analysis of the microstructure of gradient materials. M.Sc. Thesis, Warsaw University of Technology, Warsaw, 2000.
37. Susagna, F.; Yotte, S.; Riss, J.; Breysse, D.; Ghosh, S. Proceedings of the 6th International Conference on Stereology and Image Analysis in Material Science, Stermat, 2000; p 397.
38. Howard, C. J.; Kennedy, B. J.; Chakoumakos, B. C. J. Phys.: Condens. Matter. 2000, 12, 349.
39. Jantzen, M.; Morgan, O. ICDD Collection Code-34-0467, Private communication, 1983.
40. Haemers, T. A. M.; Ijdo, D. J. W.; Groen, W. A.; van Hal, H. A. M.; Helmholdt, R. B. Mater. Res. Bull. 1993, 28, 111.
41. Wisniewska, M.; Wojtowicz, A. J.; Lukasiewicz, T.; Frukacz, Z.; Galazka, Z.; Malinowski, M. Proc. SPIE 2001, 4412, 351.
42. Novoselov, A.; Yoshikawa, A.; Pejchal, J.; Nikl, M.; Fukuda, T. Opt. Mater. 2007, 30, 168.
43. Martin-Brunetiere, F. J. Phys. Paris 1969, 30, 839.
44. Pelletier-Allard, N.; Martin-Brunetiere, F. J. Phys. Paris 1969, 30, 849.
45. Mariotto, G.; Tietz, F.; Zanghellini, E.; Ferrari, M. J. Luminesc. 1994, 60/61, 216.
46. Mariotto, G.; Tietz, F.; Zanghellini, E.; Ferrari, M. J. Phys. IV 1994, 4, C4-473.