-
1
-
-
28044461778
-
-
Aukkaravittayapum, S.; Wongtida, N.; Kasecwatin, T.; Charojrochkul, S.; Unnanon, K.; Chindaudom, P. Thin Solid Films, 2006, 496: 117
-
(2006)
Thin Solid Films
, vol.496
, pp. 117
-
-
Aukkaravittayapum, S.1
Wongtida, N.2
Kasecwatin, T.3
Charojrochkul, S.4
Unnanon, K.5
Chindaudom, P.6
-
2
-
-
0037179785
-
-
Cui, H. N.; Teixeira, V.; Monteiro, A. Vacuum, 2002, 67: 589
-
(2002)
Vacuum
, vol.67
, pp. 589
-
-
Cui, H.N.1
Teixeira, V.2
Monteiro, A.3
-
3
-
-
0000158969
-
-
Vossmeyer, T.; Jia, S.; Deionno, E.; Diehl, M. R.; Kim, S. H.; Peng, X.; Alivisatos, A. P.; Heath, J. R. J. Appl. Phys., 1998, 84: 3664
-
(1998)
J. Appl. Phys
, vol.84
, pp. 3664
-
-
Vossmeyer, T.1
Jia, S.2
Deionno, E.3
Diehl, M.R.4
Kim, S.H.5
Peng, X.6
Alivisatos, A.P.7
Heath, J.R.8
-
4
-
-
12344335855
-
-
Ji, Z. G.; He, Z. J.; Song, Y. L. Acta Phys. Sin., 2004, 53: 4330
-
(2004)
Acta Phys. Sin
, vol.53
, pp. 4330
-
-
Ji, Z.G.1
He, Z.J.2
Song, Y.L.3
-
6
-
-
33745783360
-
-
Liu, C. M.; Fang, L. M.; Zhu, X. T.; Zhou, W. L. Jouranl of University of Electronic Science and Technology of China, 2006, 35: 409
-
(2006)
Jouranl of University of Electronic Science and Technology of China
, vol.35
, pp. 409
-
-
Liu, C.M.1
Fang, L.M.2
Zhu, X.T.3
Zhou, W.L.4
-
7
-
-
60849120534
-
-
Wang, Y. J.; Chen, H. C.; Wang, J. F.; Dong, H. M.; Zhang, P. L.; Zhong, W. L. Piezoelectrics and Acoustooptics, 2000, 22: 259
-
(2000)
Piezoelectrics and Acoustooptics
, vol.22
, pp. 259
-
-
Wang, Y.J.1
Chen, H.C.2
Wang, J.F.3
Dong, H.M.4
Zhang, P.L.5
Zhong, W.L.6
-
8
-
-
33144488935
-
-
Shieh, S. R; Kubo, A.; Duffy, T. S.; Prakapenka, V. B.; Shen, G. Y. Phys. Rev. B, 2006, 73: 014105
-
(2006)
Phys. Rev. B
, vol.73
, pp. 014105
-
-
Shieh, S.R.1
Kubo, A.2
Duffy, T.S.3
Prakapenka, V.B.4
Shen, G.Y.5
-
9
-
-
0035535380
-
-
Baroni, S.; Gironcoli, S. D.; Corso, A. D.; Giannozzi, P. Rev. Mod. Phys., 2001, 73: 515
-
(2001)
Rev. Mod. Phys
, vol.73
, pp. 515
-
-
Baroni, S.1
Gironcoli, S.D.2
Corso, A.D.3
Giannozzi, P.4
-
10
-
-
0037171005
-
-
Segall, M. D.; Lindan, P. J. D.; Probert, M. J.; Pickard, C. J.; Hasnip, P. J.; Clark, S. J.; Payne, M. C. J. Phys. Cond. Matt., 2002, 14: 2717
-
(2002)
J. Phys. Cond. Matt
, vol.14
, pp. 2717
-
-
Segall, M.D.1
Lindan, P.J.D.2
Probert, M.J.3
Pickard, C.J.4
Hasnip, P.J.5
Clark, S.J.6
Payne, M.C.7
-
11
-
-
4243943295
-
-
Perdew, J. P.; Burke, K.; Emzerhof, M. Phys. Rev. Lett., 1996, 77: 3865
-
(1996)
Phys. Rev. Lett
, vol.77
, pp. 3865
-
-
Perdew, J.P.1
Burke, K.2
Emzerhof, M.3
-
13
-
-
28044469889
-
-
Muller, J.; Nowoczin, J.; Schmitt, H. Thin Solid Films, 2006, 496: 364
-
(2006)
Thin Solid Films
, vol.496
, pp. 364
-
-
Muller, J.1
Nowoczin, J.2
Schmitt, H.3
-
14
-
-
0035270478
-
-
Park, S. H.; Kim, H. M.; Rhee, B. R.; Ko, E. Y.; Shon, S. H. Jpn. J. Appl. Phys., 2001, 40: 1429
-
(2001)
Jpn. J. Appl. Phys
, vol.40
, pp. 1429
-
-
Park, S.H.1
Kim, H.M.2
Rhee, B.R.3
Ko, E.Y.4
Shon, S.H.5
-
15
-
-
2942601772
-
-
Ren, C. Y.; Chiou, S. H.; Hsue, C. S. Phys. B, 2004, 349: 136
-
(2004)
Phys. B
, vol.349
, pp. 136
-
-
Ren, C.Y.1
Chiou, S.H.2
Hsue, C.S.3
-
16
-
-
34548034466
-
-
Shi, Y. J.; Du, Y. L.; Chen, G.; Chen, G. L. Phys. Lett. A, 2007, 368: 495
-
(2007)
Phys. Lett. A
, vol.368
, pp. 495
-
-
Shi, Y.J.1
Du, Y.L.2
Chen, G.3
Chen, G.L.4
-
17
-
-
33751396624
-
-
Shein, I. R.; Shein, K. I.; Ivanovskii, A. L. Phys. B, 2007, 387: 184
-
(2007)
Phys. B
, vol.387
, pp. 184
-
-
Shein, I.R.1
Shein, K.I.2
Ivanovskii, A.L.3
-
19
-
-
41849109099
-
-
Deligoz, E.; Colakoglu, K.; Ciftci, Y. O. J. Phys. Chem. Solids, 2008, 69: 859
-
(2008)
J. Phys. Chem. Solids
, vol.69
, pp. 859
-
-
Deligoz, E.1
Colakoglu, K.2
Ciftci, Y.O.3
-
20
-
-
12844250774
-
-
He, J. L.; Guo, L. C.; Yu, D. L.; Liu, R. P.; Tian, Y. J. Appl. Phys. Lett., 2004, 85: 5571
-
(2004)
J. Appl. Phys. Lett
, vol.85
, pp. 5571
-
-
He, J.L.1
Guo, L.C.2
Yu, D.L.3
Liu, R.P.4
Tian, Y.5
-
21
-
-
33645394136
-
-
Guo, X. J.; He, J. L.; Liu, Z. Y.; Tian, Y. J. Phys. Rev. B, 2006, 73: 104115
-
(2006)
Phys. Rev. B
, vol.73
, pp. 104115
-
-
Guo, X.J.1
He, J.L.2
Liu, Z.Y.3
Tian, Y.J.4
-
22
-
-
4444368021
-
-
Gao, F. M.; He, J. L.; Wu, E. D.; Liu, S. M.; Yu, D. L.; Li, D. C.; Zhang, S. Y.; Tian, Y. J. Phys. Rev. Lett., 2003, 91: 015502
-
(2003)
Phys. Rev. Lett
, vol.91
, pp. 015502
-
-
Gao, F.M.1
He, J.L.2
Wu, E.D.3
Liu, S.M.4
Yu, D.L.5
Li, D.C.6
Zhang, S.Y.7
Tian, Y.J.8
-
23
-
-
0036849847
-
-
Dolbec, R.; El Khakani, M. A.; Serventi, A. M. Trudeau, M.; Saint, R. G. Thin Solid Films, 2002, 419: 230
-
(2002)
Thin Solid Films
, vol.419
, pp. 230
-
-
Dolbec, R.1
El Khakani, M.A.2
Serventi, A.M.3
Trudeau, M.4
Saint, R.G.5
-
25
-
-
40049100181
-
-
Guan, L.; Liu, B. T.; Li, X.; Zhao, Q. X.; Wang, Y. L.; Guo, J. X.; Wang, S. B. Acta. Phys. Sin., 2008, 57: 482
-
(2008)
Acta. Phys. Sin
, vol.57
, pp. 482
-
-
Guan, L.1
Liu, B.T.2
Li, X.3
Zhao, Q.X.4
Wang, Y.L.5
Guo, J.X.6
Wang, S.B.7
-
27
-
-
0034635396
-
-
Dietl, T.; Ohno, H.; Matsukura, F.; Cibert, J.; Ferrand, D. Science, 2000, 287: 1019
-
(2000)
Science
, vol.287
, pp. 1019
-
-
Dietl, T.1
Ohno, H.2
Matsukura, F.3
Cibert, J.4
Ferrand, D.5
-
28
-
-
35748971448
-
-
Feng, J.; Xiao, B.; Chen, J. C. Acta Phys. Sin., 2007, 56: 5990
-
(2007)
Acta Phys. Sin
, vol.56
, pp. 5990
-
-
Feng, J.1
Xiao, B.2
Chen, J.C.3
-
29
-
-
52649088166
-
-
Chen, K.; Fan, G. H.; Zhang, Y.; Ding, S. F. Acta Phys.-Chim. Sin., 2008, 24(1): 61
-
(2008)
Acta Phys.-Chim. Sin
, vol.24
, Issue.1
, pp. 61
-
-
Chen, K.1
Fan, G.H.2
Zhang, Y.3
Ding, S.F.4
|