Magnetic field effects on the formation and properties of nickel nanostructures

European Journal of Inorganic Chemistry

Volumn , Issue 3, 2009, Pages 435-440

  Sun, Lixia ^a   Chen, Qianwang ^a  

^a UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY OF CHINA   (China)

Author keywords

Magnetic properties; Microwave absorption; Nanostructures; Nickel; Reaction conditions

Indexed keywords

MAGNETIC BUBBLES; MAGNETIC PROPERTIES; MICROSPHERES; NICKEL; NITROGEN COMPOUNDS; WIRE;

APPLIED FIELD; MAGNETIC LINES; MAGNETIC-DOMAIN STRUCTURES; MAGNETIC-FIELD; MICROWAVE ABSORPTION; NICKEL WIRES; POLY(METHYL METHACRYLATE); POLY-METHYL METHACRYLATES; PROPERTY; REACTION CONDITIONS;

NANOSTRUCTURES;

EID: 58249102268     PISSN: 14341948     EISSN: 10990682     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/ejic.200801039     Document Type: Article

References (38)

1. A. P. Alivisatos, Science 1996, 271, 933.
2. C. B. Murray, D. J. Norris, M. G. Bawendi, J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 8706.
3. V. F. Puntes, K. M. Krishnan, A. P. Alivisatos, Science 2001, 291, 2115.
4. R. Heitz, S. Rodt, A. Schliwa, D. Bimberg, Phys. Status Solidi B 2003, 238, 273.
5. R. Narayanan, M. A. El-Sayed, Nano Lett. 2004, 4, 1343.
6. X. M. Ni, Q. B. Zhao, H. G. Zheng, B. B. Li, J. M. Song, D. E. Zhang, X. J. Zhang, Eur. J. Inorg. Chem. 2005, 4788.
7. a) W. X. Zhang, C. B. Wang, H. L. Lien, Catal. Today 1998, 40, 387;
8. b) M. P. Pileni, Adv. Funct. Mater. 2001, 11, 323;
9. c) R. Hernandez, S. Polizu, S. Turenne, L. Yahia, Bio-Med. Mater. Eng. 2002, 12, 37;
10. d) A. Smogunov, A. Dal Corso, E. Tosatti, Surf. Sci. 2002, 507, 609.
11. a) H. Q. Cao, L. D. Wang, Y. Qiu, Q. Z. Wu, G. Z. Wang, L. Zhang, X. W. Liu, ChemPhysChem 2006, 7, 1500;
12. b) J. C. Bao, Y. Y. Liang, Z. Xu, L. Si, Adv. Mater. 2003, 15, 1832;
13. c) Z. P. Liu, S. Li, Y. Yang, S. Peng, Z. K. Hu, Y. T. Qian, Adv. Mater. 2003, 15, 1946.
14. Z. K. Wang, M. H. Kuok, S. C. Ng, D. J. Lockwood, M. G. Cottam, K. Nielsch, R. B. Wehrspohn, U. Gösele, Phys. Rev. Lett. 2002, 89, 027201.
15. L. Sun, P. C. Searson, C. L. Chien, Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 4429.
16. S. Pignard, G. Goglio, A. Radulescu, L. Piraux, S. Dubois, A. Declemy, J. L. Duvail, J. Appl. Phys. 2000, 87, 824.
17. J. Joo, S. J. Lee, D. H. Park, Y. S. Kim, Y. Lee, C. J. Lee, S. R. Lee, Nanotechnology 2006, 17, 3506.
18. N. Cordente, M. Respaud, F. Senocq, M. J. Casanove, C. Amiens, B. Chaudret, Nano Lett. 2001, 1, 565.
19. J. C. Bao, C. Y. Tie, Z. Xu, Q. F. Zhou, D. Shen, Q. Ma, Adv. Mater. 2001, 13, 1631.
20. K. Nielsch, R. B. Wehrspohn, J. Barthel, J. Kirschner, S. F. Fischer, H. Kronmuller, T. Schweinbock, D. Weiss, U. Gosele, J. Magn. Magn. Mater. 2002, 249, 234.
21. B. K. Pradhan, T. Kyotani, A. Tomita, Chem. Commun. 1999, 14, 1317.
22. a) B. Gates, B. Mayers, B. Cattle, Y. N. Xia, Adv. Funct. Mater. 2002, 12, 219;
23. b) X. Wang, Y. D. Li, J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 2880.
24. K. Chie, M. Fujiwara, Y. Fujiwara, Y. Tanimoto, J. Phys. Chem. B 2003, 107, 14374.
25. M. Fujiwara, K. Chie, J. Sawai, D. Shimizu, Y. Tanimoto, J. Phys. Chem. B 2004, 108, 3531.
26. Y. Ikezoe, N. Hirota, J. Nakagawa, K. Kitazawa, Nature 1998, 393, 749.
27. Z. M. Peng, J. Wang, Y. J. Huang, Q. W. Chen, Chem. Eng. Technol. 2004, 27, 1273.
28. L. X. Sun, Q. W. Chen, Y. Tang, Y. Xiong, Chem. Commun. 2007, 2844.
29. a) Z. T. Zhang, B. Zhao, L. M. Hu, J. Solid State Chem. 1996, 121, 105;
30. b) Y. G. Sun, Y. D. Yin, B. T. Mayers, T. Herricks, Y. N. Xia, Chem. Mater. 2002, 14, 4736.
31. a) T. Ghoshal, S. Kar, S. Chaudhuri, Cryst. Growth Des. 2007, 7, 136;
32. b) S. R. Dickinson, K. M. McGrath, J. Mater. Chem. 2003, 13, 928.
33. F. Bradley, W. C. M. Lewis, J. Phys. Chem. 1925, 29, 782.
34. G. Åkerlöf, J. Am. Chem. Soc. 1932, 54, 4125.
35. X. M. Ni, Q. B. Zhao, Y. F. Zhang, H. G. Zheng, Eur. J. Inorg. Chem. 2007, 422.
36. R. T. Olesson, G. Salazar-Alvarez, M. S. Hedenqvist, U. W. Gedde, F. Lindberg, S. J. Savage, Chem. Mater. 2005, 17, 5109.
37. W. G. Yu, T. L. Zhang, X. J. Qiao, J. G. Zhang, L. Yang, Mater. Sci. Eng., B 2007, 136, 101.
38. P. Singh, V. K. Babbar, A. Razdan, R. K. Puri, T. C. Goel, J. Appl. Phys. 2000, 87, 4362.