Nanoscale molecular surface electron solvation

Journal of Computational and Theoretical Nanoscience

Volumn 5, Issue 7, 2008, Pages 1269-1276

  Jalbout, Abraham F ^a  

^a Instituto de Quimica de la UNAM   (Mexico)

Author keywords

Ab initio; Anions with internally solvated electrons (AISE); Charge pockets; Excess electron traps; Nanomolecular surfaces; Solvents; Vertical detachment energy (VDE)

Indexed keywords

ATOMS; FLUORINE COMPOUNDS; HYDROGEN BONDS; NANOTECHNOLOGY; NEGATIVE IONS; SOLVATION; SOLVENTS;

AB INITIO; CHARGE POCKETS; EXCESS ELECTRONS; SOLVATED ELECTRON; VERTICAL DETACHMENT ENERGIES;

ELECTRONS;

EID: 57749112191     PISSN: 15461955     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1166/jctn.2008.2563     Document Type: Article

References (15)

1. A. F. Jalbout, C. A. Morgado, and L. Adamowicz, Chem. Phys. Lett. 383, 317 (2004).
2. X.-F. Pang, H.-W. Zhang, and A. F. Jalbout, J. Phys. Chem. Sol. 66, 963 (2005).
3. A. F. Jalbout and L. Adamowicz, Adv. Quant. Chem. 52, 233 (2007).
4. A. F. Jalbout and L. Adamowicz, Mol. Phys. 19, 3101 (2006).
5. A. F. Jalbout, Int. J. Quant. Chem. 108, 584 (2008).
6. A. Bialonska and Z. Ciunik, Crys. Eng. Comm. 8, 66 (2006).
7. G. Klesper and F. W. Röllgen, Surf. Sci. 422, 107 (1999).
8. J. F. Arenas, I. Lopez-Tocon, J. L. Castro, S. R Centeno, M. R. Lopez-Ramirez, and J. C. Otero, J. Ram. Spect. 36, 515 (2005).
9. K. Suzuki, H. Shiroishi, M. Hoshino, and M. Kaneko, J. Phys. Chem. A 107, 5523 (2003).
10. A. E. Baber, S. C. Jensen, E. Sykes, and H. Charles, J. Am. Chem. Soc. 128, 15384 (2006).
11. A. F. Jalbout, Int. J. Quant. Chem. 108, 532 (2008).
12. A. F. Jalbout, R. del Castillo, and L. Adamowicz, Chem. Phys. Lett. 445, 89 (2007).
13. A. F. Jalbout, R. del Castillo, and L. Adamowicz, Chem. Phys. Lett. 434, 15 (2007).
14. A. F. Jalbout, Mol. Phys. 105, 111 (2007).
15. M. J. Frisch, G. W. Trucks, H. B. Schlegel, G. E. Scuseria, M. A. Robb, J. R. Cheeseman, J. A. Montgomery, Jr., T. Vreven, K. N. Kudin, J. C. Burant, J. M. Millam, S. S. Iyengar, J. Tomasi, V. Barone, B. Mennucci, M. Cossi, G. Scalmani, N. Rega, G. A. Petersson, H. Nakatsuji, M. Hada, M. Ehara, K. Toyota, R. Fukuda, J. Hasegawa, M. Ishida, T. Nakajima, Y. Honda, O. Kitao, H. Nakai, M. Klene, X. Li, J. E. Knox, H. P. Hratchian, J. B. Cross, V. Bakken, C. Adamo, J. Jaramillo, R. Gomperts, R. E. Stratmann, O. Yazyev, A. J. Austin, R. Cammi, C. Pomelli, J. W. Ochterski, P. Y. Ayala, K. Morokuma, G. A. Voth, P. Salvador, J. J. Dannenberg, V. G. Zakrzewski, S. Dapprich, A. D. Daniels, M. C. Strain, O. Farkas, D. K. Malick, A. D. Rabuck, K. Raghavachari, J. B. Foresman, J. V. Ortiz, Q. Cui, A. G. Baboul, S. Clifford, J. Cioslowski, B. B. Stefanov, G. Liu, A. Liashenko, P. Piskorz, I. Komaromi, R. L. Martin, D. J. Fox, T. Keith, M. A. Al-Laham, C. Y. Peng, A. Nanayakkara, M. Challacombe, P. M. W. Gill, B. Johnson, W. Chen, M. W. Wong, C. Gonzalez, and J. A. Pople, Gaussian 03, Revision C.02, Gaussian, Inc., Wallingford, CT (2004).