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Volumn 88, Issue 6, 2008, Pages 386-388

Nonlinear refraction in nanocrystalline silicon carbide films

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EID: 57349137204     PISSN: 00213640     EISSN: 10906487     Source Type: Journal    
DOI: 10.1134/S0021364008180094     Document Type: Article
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References (10)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.