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Volumn 458, Issue 2020, 2002, Pages 823-840

Thin films with many small cracks

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limit; Cracks; Homogenization; Thin films

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EID: 57249087301     PISSN: 13645021     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1098/rspa.2001.0821     Document Type: Article
Times cited : (9)

References (10)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.