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Volumn 181, Issue 11, 2008, Pages 2914-2917

High-pressure single-crystal X-ray diffraction of Tl2SeO4

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K2SO4 structure; Electron lone pairs; High pressure; Single crystal X ray diffraction

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EID: 55549147490     PISSN: 00224596     EISSN: 1095726X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.jssc.2008.07.015     Document Type: Article
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    • STOE & Cie GmbH, Darmstadt.
    • STOE & Cie GmbH, Darmstadt.


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.