Transient detection and classification

Astronomische Nachrichten

Volumn 329, Issue 3, 2008, Pages 280-283

  Becker, A C ^a  

^a UNIVERSITY OF WASHINGTON   (United States)

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Methods: data analysis; Surveys; Techniques: image processing

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EID: 55549083881     PISSN: 00046337     EISSN: 15213994     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/asna.200710937     Document Type: Conference Paper

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