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Volumn 2, Issue 11, 2008, Pages 661-663

Scanning interferometry: Measuring microscale devices

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MICROSCALE DEVICES;

EID: 55249096469     PISSN: 17494885     EISSN: 17494893     Source Type: Journal    
DOI: 10.1038/nphoton.2008.216     Document Type: Short Survey
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.