메뉴 건너뛰기




Volumn 112, Issue 40, 2008, Pages 9628-9649

Nanojets, electrospray, and ion field evaporation: Molecular dynamics simulations and laboratory experiments

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CHARGE EMISSIONS; CHARGE RATIOS; CHARGED DROPLETS; CLUSTER IONS; CONSISTENT; ELECTRIC FIELD STRENGTHS; ELECTROSPRAY; ELECTROSPRAY SOURCES; ELECTROSPRAYS; ENERGY DISTRIBUTIONS; FIELD EVAPORATIONS; FIELD STRENGTHS; FLIGHT TIMES; FRAGMENTATION PATTERNS; INTERFACIAL PROPERTIES; INTERFACIAL REGIONS; ION DISSOCIATIONS; ION DISTRIBUTIONS; ION EVAPORATIONS; IONIC CHARGES; LABORATORY EXPERIMENTS; MACROSCOPIC PARAMETERS; MOLE RATIOS; MOLECULAR DYNAMICS SIMULATIONS; NANOJET; NANOJETS; NANOSCALE; NECK REGIONS; NEGATIVE CURRENTS; OHMIC LOSSES; RANGING; SALT SOLUTIONS; SPATIAL CURVATURES; SURFACE ELECTRIC FIELDS; SURFACE REGIONS; TAYLOR CONES; UNIFORM ELECTRIC FIELDS; UNIMOLECULAR;

EID: 54849429587     PISSN: 10895639     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp804585y     Document Type: Article
Times cited : (93)

References (105)
  • 6
    • 54849418839 scopus 로고    scopus 로고
    • Nollet, A. Recherches Sur les Causes Particulieres des Phénomenes Électrique; chez les frères Guérin, Rue S. Jacques, A. S. Thomas d'Aquin, Paris, 1749.
    • Nollet, A. Recherches Sur les Causes Particulieres des Phénomenes Électrique; chez les frères Guérin, Rue S. Jacques, A. S. Thomas d'Aquin, Paris, 1749.
  • 65
    • 27644455269 scopus 로고    scopus 로고
    • Petersen, P. B.; Saykally, R. J. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127597, 15446.
    • Petersen, P. B.; Saykally, R. J. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127597, 15446.
  • 83
    • 54849406103 scopus 로고    scopus 로고
    • Frisch, M. J, Trucks, G. W, Schlegel, H. B, Scuseria, G. E, Robb, M. A, Cheeseman, J. R, Montgomery, J. A, Jr, Vreven, T, Kudin, K. N, Burant, J. C, Millam, J. M, Iyengar, S. S, Tomasi, J, Barone, V, Mennucci, B, Cossi, M, Scalmani, G, Rega, N, Petersson, G. A, Nakatsuji, H, Hada, M, Ehara, M, Toyota, K, Fukuda, R, Hasegawa, J, Ishida, M, Nakajima, T, Honda, Y, Kitao, O, Nakai, H, Kiene, M, Li, X, Knox, J. E, Hratchian, H. P, Cross, J. B, Bakken, V, Adamo, C, Jaramillo, J, Gomperts, R, Stratmann, R. E, Yazyev, O, Austin, A. J, Cammi, R, Pomelli, C, Ochterski, J. W, Ayala, P. Y, Morokuma, K, Voth, G. A, Salvador, P, Dannenberg, J. J, Zakrzewski, V. G, Dapprich, S, Daniels, A. D, Strain, M. C, Farkas, O, Malick, D. K, Rabuck, A. D, Raghavachari, K, Foresman, J. B, Ortiz, J. V, Cui, Q, Baboul, A. G, Clifford, S, Cioslowski, J, Stefanov, B. B, Liu, G, Liashenko, A, Piskorz, P, Komaromi, I, Martin, R. L, Fox, D. J. K.T
    • Frisch, M. J. ; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Montgomery, J. A., Jr.; Vreven, T.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.; Millam, J. M.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y. ; Kitao, O.; Nakai, H.; Kiene, M.; Li, X.; Knox, J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.; Bakken, V.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Ayala, P. Y.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J. K.T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian 03, revision C.02; Gaussian, Inc.: Wallingford, CT, 2004.
  • 96
    • 84893169025 scopus 로고    scopus 로고
    • Sch, M. W.; Baldridge, K. K.; Boatz; J. A.; Elbert, S. T.; Gordon, M. S.; H., J. J.; S., K.; Matsunaga, N.; Nguyen, K. A.; Su, S.; Windus, T. L.; Dupuis, M.; Montgomery, J. A. J. Comput. Chem. 1993, 14, 1347.
    • Sch, M. W.; Baldridge, K. K.; Boatz; J. A.; Elbert, S. T.; Gordon, M. S.; H., J. J.; S., K.; Matsunaga, N.; Nguyen, K. A.; Su, S.; Windus, T. L.; Dupuis, M.; Montgomery, J. A. J. Comput. Chem. 1993, 14, 1347.


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.