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Volumn 77, Issue 3, 2008, Pages

Analysis of incident-photon-energy and polarization dependent resonant inelastic X-ray scattering from La2CuO4

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La2CuO4; RIXS; Theory; Tight binding model; XES

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EID: 54349112378     PISSN: 00319015     EISSN: 13474073     Source Type: Journal    
DOI: 10.1143/JPSJ.77.034711     Document Type: Article
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    • private communication
    • H. Ishii: private communication.
    • Ishii, H.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.