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Volumn 1, Issue 1, 2008, Pages 315-324

A new program for the design of electron microscopes

Author keywords

Computer aided design; Electron lenses and deflectors; Finite element method; User interface

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EID: 54149098639     PISSN: 18753884     EISSN: 18753892     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1016/j.phpro.2008.07.111     Document Type: Conference Paper
Times cited : (50)

References (16)
  • 7
    • 54149094222 scopus 로고    scopus 로고
    • B. Lencová, M. Lenc, SEM 1986, Part III, SEM Inc. 1986, 897.
    • B. Lencová, M. Lenc, SEM 1986, Part III, SEM Inc. 1986, 897.


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.