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Volumn 6, Issue 4, 1996, Pages

Réflectométrie X et diffusion aux petits angles

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EID: 5244369234     PISSN: 11554339     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1051/jp4:1996432     Document Type: Article
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References (11)
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    • 5244257257 scopus 로고    scopus 로고
    • Guinier A., Fournet G. (New York. JOHN WILEY & SONS, Inc., London. CHAPMAN & HALL, ltd. 1955) 19-20
    • Guinier A., Fournet G. (New York. JOHN WILEY & SONS, Inc., London. CHAPMAN & HALL, ltd. 1955) 19-20.


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.