La spectrométrie de fluorescence X et l'analyse quantitative de couches minces à l'aide d'échantillons massifs. Application au dosage des aérosols atmosphériques

Journal De Physique. IV : JP

Volumn 6, Issue 4, 1996, Pages

  De Chateaubourg, P ^a  

^a UNIVERSITÉ PARIS EST CRÉTEIL   (France)

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EID: 5244337147     PISSN: 11554339     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Article

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