Diffraction des rayons X en réflexion sous incidence fixe. Mise en œuvre d'un détecteur courbe à localisation (CPS 120 Inel)

Journal De Physique. IV : JP

Volumn 6, Issue 4, 1996, Pages

  Guinebretiere R ^a   Masson, O ^a   Silva, M C ^a   Fillion, A ^a   Surmont, J P ^a   Dauger, A ^a  

^a Ecole Nationale Superieure de Ceramique Industrielle   (France)

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EID: 5244330694     PISSN: 11554339     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1051/jp4:1996411     Document Type: Article

References (19)

1. Toraya H., Huang T.C. et Wu Y. J.Appl.Cryst. 26(1993)774-777.
2. Evain M. Deniard P. Jouanneaux A. et Brec R. J.Appl.Cryst. 26(1993)563-569.
3. Evain M., Boucher F., Brec R. et Mathey Y. J. Solid State Chem.90(1991)8-16.
4. Louer D, Louer M. et Touboul M. J.Appl.Cryst. 25(1992)617-623.
5. Thompson P. et Wood I.G. J.Appl.Cryst. 16(1983)458-472.
6. Courbion G. et Ferey G. J.Solid State Chem. 76(1988)426-431.
7. Deniard P., Evain M., Baret J.M. et Brec R. Mater.Sci.Forum 79-82(1991)363-70
8. Rietveld H.M. Acta Cryst.22(1967)630-633.
9. Hill R.J. J.Appl.Cryst. 25(1992)589-610.
10. Hill R.J. et Cranswick L.M.D. J.Appl.Cryst. 27(1994)802-844.
11. Rodriguez-Carvajal J. FULLPROF. I.L.L. program, Grenoble (1992).
12. Guinebretière R., Dauger A., Lecomte A. et Vesteghem H. J. of Non Cryst. Solids 147(1992)542-47.
13. Thompson P., Cox D.E. and Hastings J.B. J.Appl.Cryst. 20(1987)79-83.
14. Caggliotti G., Paoletti A. et Ricci F.P. Nucl. Instrum. 3(1958) 223-228.
15. Sardi P., Lutterotti L. et Maggio R. Powder diffraction 6[1](1991)20-25.
16. Oudjedi Z., Guinebretière R., Dauger A. Marchant S. et Soulestin B., Fourth Euro Ceramics Vol.4, 1995 pp.53-58.
17. Guinebretière R., Masson O., Ruin P., Trolliard G. et Dauger A. Phil.Mag.Lett.70[6](1994) 389-96.
18. Wang X.L., Hubbard C.R. Alexander K.B. et Becher P.F. J.Am.Ceram.Soc. 77[6](1994) 1569-75.
19. Riessen A. et O'Connor B.H. J.Am.Ceram.Soc. 76[8](1993)2133-35.