Utilisation du spectre de Fourier des courbes de réflectivité X pour l'étude d'empilements de couches minces

Journal De Physique. IV : JP

Volumn 6, Issue 4, 1996, Pages

  Bridou, F ^a   Pardo, B ^a  

^a INSTITUT D'OPTIQUE GRADUATE SCHOOL   (France)

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EID: 5244312929     PISSN: 11554339     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1051/jp4:1996433     Document Type: Article

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