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Volumn 6, Issue 4, 1996, Pages

Utilisation de la diffraction de rayons X pour l'étude de traitements de surface laser

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EID: 5244295645     PISSN: 11554339     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1051/jp4:1996412     Document Type: Article
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References (4)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.