Der einfluß statistischer dotierungsschwankungen auf die minimale kanallänge von kurzkanal-MOS-transistoren

ITG-Fachbericht

Volumn , Issue 138, 1996, Pages 183-188

  Mikolajick, T ^a   Ryssel, H ^a  

^a FRAUNHOFER INSTITUTE FOR INTEGRATED CIRCUITS IIS   (Germany)

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EID: 5244230169     PISSN: 09326022     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Article

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