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Volumn 57, Issue 8, 2008, Pages 5333-5342

Determining the threshold of extreme events with detrended fluctuation analysis

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Detrended fluctuation analysis; Extreme event; Threshold

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EID: 51649101367     PISSN: 10003290     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.