메뉴 건너뛰기




Volumn 93, Issue 2, 2008, Pages 399-403

TiO2 microstructures by inversion of macroporous silicon using atomic layer deposition

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

PULSED LASER DEPOSITION; SILICON; THICKNESS MEASUREMENT; THREE DIMENSIONAL;

EID: 51649085257     PISSN: 09478396     EISSN: 14320630     Source Type: Journal    
DOI: 10.1007/s00339-008-4784-8     Document Type: Article
Times cited : (22)

References (24)
  • 1
    • 0037142065 scopus 로고    scopus 로고
    • M.E. Davis, Nature 417, 813 (2002)
    • (2002) Nature , vol.417 , pp. 813
    • Davis, M.E.1
  • 16
    • 51649107961 scopus 로고
    • US Patent 4∈058∈430
    • T. Suntola, J. Antson, US Patent 4∈058∈430 (1977)
    • (1977)
    • Suntola, T.1    Antson, J.2


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.