Growth of microscale in2O3 islands on Y-stabilized zirconia(100) by molecular beam epitaxy

Chemistry of Materials

Volumn 20, Issue 14, 2008, Pages 4551-4553

  Bourlange, A ^a   Payne, D J ^a   Jacobs, R M J ^a   Egdell, R G ^a   Foord, J S ^a   Schertel, A ^b   Dobson, P J ^a   Hutchison, J L ^a  

^a UNIVERSITY OF OXFORD   (United Kingdom)

^b CARL ZEISS SMT AG   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

MICRO SCALES;

THICKNESS MEASUREMENT;

EID: 49249127770     PISSN: 08974756     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/cm800984r     Document Type: Article

References (15)

1. Schaffer, W. J.; Lind, M. D.; Kowalczyk, S. P.; Grant, R. W. J. Vac. Sci. Technol., B 1983, 1, 688.
2. Yoffe, A. D. Adv. Phys. 2001, 50, 1.
3. Marzi, J. Y.; Gerard, J. M.; Izrael, A.; Barrie, D.; Bastard, G. Phys. Rev. Lett. 1994, 73, 716.
4. Granqvist, C. G. Sol. Energy Mater. Sol. Cells 2007, 91, 1529.
5. Bourlange, A.; Payne, D. J.; Egdell, R. G.; Foord, J. S.; Edwards, P. P.; Jones, M. O.; Schertel, A.; Dobson, P. J.; Hutchison, J. L. Appl. Phys. Lett. 2008, 92, 092117.
6. Moringa, M.; Cohen, J. B. Acta Crystallogr., Sect. A 1979, 35, 789.
7. Horiuchi, H.; Schultz, A. J.; Leung, P. C.; Williams, J. M. Acta Crystallogr., Sect. B 1984, 40, 367.
8. Ohta, H.; Orita, M.; Hirano, M.; Tanji, H.; Kawazoe, H.; Hosono, H. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 2740.
9. Ohta, H.; Orita, M.; Hirano, M.; Hosono, H. J. Appl. Phys. 2002, 91, 3547.
10. Koida, T.; Kondo, M. J. Appl. Phys. 2006, 99, 123703.
11. Taga, N.; Maekwa, M.; Shigesato, Y.; Yasui, I.; Kakei, M.; Haynes, T. E. Jpn. J. Appl. Phys. 1998, 37, 6524.
12. Metzner, C.; Stehr, D. Phys. Rev. B 2004, 70, 195433.
13. Vurgraftman, I.; Meyer, J. R.; Wu, D. H.; Bussman, K.; Jonker, B. T. J. Appl. Phys. 2006, 100, 064509.
14. Hashiba, H.; Das, B.; n/a, B.; Nicholls, J. T.; Antonov, V.; Kulik, L.; Komiyama, K. Physica E 2006, 34, 644.
15. Hamberg, I.; Granqvist, C. G.; Berggren, K. F.; Sernelius, B. E.; Egström, L. Phys. Rev. B 1984, 30, 3240.