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Volumn 250, Issue 2, 2008, Pages 329-338

Influence of the return current on the EUV and X-ray flare line emissions

Author keywords

Electron beam; EUV and X ray emission; Non thermal distributions; Return current

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EID: 49049084015     PISSN: 00380938     EISSN: 1573093X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1007/s11207-008-9219-3     Document Type: Article
Times cited : (13)

References (30)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.