-
2
-
-
0034074609
-
-
Aquino, F., Pauling, H., Walther, W., Plattner, D. A. & Bonrath, W. (2000). Synthesis, pp. 731-737.
-
(2000)
Synthesis
, pp. 731-737
-
-
Aquino, F.1
Pauling, H.2
Walther, W.3
Plattner, D.A.4
Bonrath, W.5
-
5
-
-
0000016277
-
-
Bruno, I. J., Cole, J. C., Edgington, P. R., Kessler, M., Macrae, C. F., McCabe, P., Pearson, J. & Taylor, R. (2002). Acta Cryst. B58, 389-397.
-
(2002)
Acta Cryst. B
, vol.58
, pp. 389-397
-
-
Bruno, I.J.1
Cole, J.C.2
Edgington, P.R.3
Kessler, M.4
Macrae, C.F.5
McCabe, P.6
Pearson, J.7
Taylor, R.8
-
6
-
-
0001287359
-
-
Csonka, G. I., Anh, N., Angyan, J. & Csizmadia, I. G. (1995). Chem. Phys. Lett. 245, 129-135.
-
(1995)
Chem. Phys. Lett
, vol.245
, pp. 129-135
-
-
Csonka, G.I.1
Anh, N.2
Angyan, J.3
Csizmadia, I.G.4
-
8
-
-
0242474475
-
-
Fornili, A., Sironi, M. & Raimondi, M. (2003). J. Mol. Struct. Theochem. 632, 157-172.
-
(2003)
J. Mol. Struct. Theochem
, vol.632
, pp. 157-172
-
-
Fornili, A.1
Sironi, M.2
Raimondi, M.3
-
9
-
-
22844443286
-
-
Gawroński, J., Długokińska, A., Grajewski, J., Plutecka, A. & Rychlewska, U. (2005). Chirality, 17, 388-395.
-
(2005)
Chirality
, vol.17
, pp. 388-395
-
-
Gawroński, J.1
Długokińska, A.2
Grajewski, J.3
Plutecka, A.4
Rychlewska, U.5
-
10
-
-
0024466587
-
-
Gawroński, J., Gawrońska, K. & Rychlewska, U. (1989). Tetrahedron Lett. 30, 6071-6074.
-
(1989)
Tetrahedron Lett
, vol.30
, pp. 6071-6074
-
-
Gawroński, J.1
Gawrońska, K.2
Rychlewska, U.3
-
11
-
-
0040550735
-
-
Gawroński, J., Gawrońska, K., Skowronek, P., Rychlewska, U., Warżajtis, B., Rychlewski, J., Hoffman, M. & Szarecka, A. (1997). Tetrahedron, 53, 6113-6144.
-
(1997)
Tetrahedron
, vol.53
, pp. 6113-6144
-
-
Gawroński, J.1
Gawrońska, K.2
Skowronek, P.3
Rychlewska, U.4
Warżajtis, B.5
Rychlewski, J.6
Hoffman, M.7
Szarecka, A.8
-
12
-
-
37349048308
-
-
Gawroński, J., Gawrońska, K., Waścińska, N., Plutecka, A. & Rychlewska, U. (2007). Polish J. Chem. 81, 1917-1925.
-
(2007)
Polish J. Chem
, vol.81
, pp. 1917-1925
-
-
Gawroński, J.1
Gawrońska, K.2
Waścińska, N.3
Plutecka, A.4
Rychlewska, U.5
-
13
-
-
0344097352
-
-
Główka, M. L., Martynowski, D. & Kozłowska, K. (1999). J. Mol. Struct. 474, 81-89.
-
(1999)
J. Mol. Struct
, vol.474
, pp. 81-89
-
-
Główka, M.L.1
Martynowski, D.2
Kozłowska, K.3
-
15
-
-
4243949165
-
-
Koh, L. L., Xu, Y., Sim, K. Y., Liang, E. & Huang, H. H. (1994). Acta Cryst. C50, 438-442.
-
(1994)
Acta Cryst. C
, vol.50
, pp. 438-442
-
-
Koh, L.L.1
Xu, Y.2
Sim, K.Y.3
Liang, E.4
Huang, H.H.5
-
17
-
-
4243455585
-
-
Kroon, J., Peerdeman, A. F. & Bijvoet, J. M. (1965). Acta Cryst. 19, 293-297.
-
(1965)
Acta Cryst
, vol.19
, pp. 293-297
-
-
Kroon, J.1
Peerdeman, A.F.2
Bijvoet, J.M.3
-
18
-
-
8344281949
-
-
Mandado, M., Grana, A. M. & Mosquera, A. (2004). Phys. Chem. Chem. Phys. 6, 4391-4396.
-
(2004)
Phys. Chem. Chem. Phys
, vol.6
, pp. 4391-4396
-
-
Mandado, M.1
Grana, A.M.2
Mosquera, A.3
-
19
-
-
48249112115
-
-
Oxford Diffraction (2007a). CrystAlis CCD. Oxford Diffraction Ltd, Abingdon, England.
-
Oxford Diffraction (2007a). CrystAlis CCD. Oxford Diffraction Ltd, Abingdon, England.
-
-
-
-
20
-
-
48249117429
-
-
Oxford Diffraction 2007b, CrystAlisPro, Version 1.171. Oxford Diffraction Ltd, Abingdon, England
-
Oxford Diffraction (2007b). CrystAlisPro, Version 1.171. Oxford Diffraction Ltd, Abingdon, England.
-
-
-
-
21
-
-
25744479487
-
-
Parfonry, A., Declercq, J.-P., Tinant, B., Van Meerssche, M. & Schweiss, P. (1988). Acta Cryst. B44, 435-440.
-
(1988)
Acta Cryst. B
, vol.44
, pp. 435-440
-
-
Parfonry, A.1
Declercq, J.-P.2
Tinant, B.3
Van Meerssche, M.4
Schweiss, P.5
-
22
-
-
25744435651
-
-
Parfonry, A., Tinant, B., Declercq, J.-P. & Van Meerssche, M. (1986). Acta Cryst. C42, 1266-1267.
-
(1986)
Acta Cryst. C
, vol.42
, pp. 1266-1267
-
-
Parfonry, A.1
Tinant, B.2
Declercq, J.-P.3
Van Meerssche, M.4
-
27
-
-
0000184356
-
-
Rychlewska, U., Warżajtis, B., Hoffmann, M. & Rychlewski, J. (1997). Molecules, 2, 106-113.
-
(1997)
Molecules
, vol.2
, pp. 106-113
-
-
Rychlewska, U.1
Warżajtis, B.2
Hoffmann, M.3
Rychlewski, J.4
-
30
-
-
0003523317
-
-
Release 3.4. Siemens Analytical X-ray Instruments, Inc, Madison, Wisconsin, USA
-
Siemens (1989). Stereochemical Workstation Operation Manual, Release 3.4. Siemens Analytical X-ray Instruments, Inc., Madison, Wisconsin, USA.
-
(1989)
Stereochemical Workstation Operation Manual
-
-
Siemens1
|