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Volumn 9, Issue 2, 2008, Pages 50-

No difference between failure rates of early and conventionally loaded implants

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EID: 46949109194     PISSN: 14620049     EISSN: 14765446     Source Type: Journal    
DOI: 10.1038/sj.ebd.6400583     Document Type: Short Survey
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.