-
1
-
-
0347591076
-
-
(a) Salomon, A.; Cohen, D.; Lindsay, S.; Tomfohr, J.; Engelkes, V. B.; Frisbie, C. D. Adv. Mater. 2003, 15, 1881-1890.
-
(2003)
Adv. Mater
, vol.15
, pp. 1881-1890
-
-
Salomon, A.1
Cohen, D.2
Lindsay, S.3
Tomfohr, J.4
Engelkes, V.B.5
Frisbie, C.D.6
-
4
-
-
0036735545
-
-
Otsubo, T.; Aso, Y.; Takimiya, K. J. Mater. Chem. 2002, 12, 2565-2575.
-
(2002)
J. Mater. Chem
, vol.12
, pp. 2565-2575
-
-
Otsubo, T.1
Aso, Y.2
Takimiya, K.3
-
5
-
-
0036007172
-
-
Holten, D.; Bocian, D. F.; Lindsey, J. S. Acc. Chem. Res. 2002, 35, 57-69.
-
(2002)
Acc. Chem. Res
, vol.35
, pp. 57-69
-
-
Holten, D.1
Bocian, D.F.2
Lindsey, J.S.3
-
6
-
-
0035936916
-
-
Sikes, H. D.; Smalley, J. F.; Dudek, S. P.; Cook, A. R.; Newton, M. D.; Chidsey, C. E. D.; Feldberg, S. W. Science 2001, 291, 1519-1523.
-
(2001)
Science
, vol.291
, pp. 1519-1523
-
-
Sikes, H.D.1
Smalley, J.F.2
Dudek, S.P.3
Cook, A.R.4
Newton, M.D.5
Chidsey, C.E.D.6
Feldberg, S.W.7
-
7
-
-
0030714102
-
-
Sachs, S. B.; Dudek, S. P.; Hsung, R. P.; Sita, L. P.; Smalley, J. F.; Newton, M. D.; Feldberg, S. W.; Chidsey, C. E. D. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 10563-10564.
-
(1997)
J. Am. Chem. Soc
, vol.119
, pp. 10563-10564
-
-
Sachs, S.B.1
Dudek, S.P.2
Hsung, R.P.3
Sita, L.P.4
Smalley, J.F.5
Newton, M.D.6
Feldberg, S.W.7
Chidsey, C.E.D.8
-
8
-
-
0004139257
-
-
Mullen, K, Wegner, G, Eds, Wiley-VCH: Weinheim
-
Bäuerle, P. In Electronic Materials: The Oligomeric Approach; Mullen, K., Wegner, G., Eds.; Wiley-VCH: Weinheim, 1998; pp 198-234.
-
(1998)
Electronic Materials: The Oligomeric Approach
, pp. 198-234
-
-
Bäuerle, P.1
-
9
-
-
0035150571
-
-
Otsubo, T.; Aso, Y.; Takimiya, K Bull. Chem. Soc. Jpn. 2001, 74, 1789-1801.
-
(2001)
Bull. Chem. Soc. Jpn
, vol.74
, pp. 1789-1801
-
-
Otsubo, T.1
Aso, Y.2
Takimiya, K.3
-
10
-
-
0038631829
-
-
Izumi, T.; Kobashi, S.; Takimiya, K.; Aso, Y.; Otsubo, T. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 5286-5287.
-
(2003)
J. Am. Chem. Soc
, vol.125
, pp. 5286-5287
-
-
Izumi, T.1
Kobashi, S.2
Takimiya, K.3
Aso, Y.4
Otsubo, T.5
-
11
-
-
0000795025
-
-
Kergueris, C.; Bourgoin, J.-P.; Palacin, S.; Esteve, D.; Urbina, C.; Magoga, M.; Joachim, C. Phys. Rev. B 1999, 59, 12505-12513.
-
(1999)
Phys. Rev. B
, vol.59
, pp. 12505-12513
-
-
Kergueris, C.1
Bourgoin, J.-P.2
Palacin, S.3
Esteve, D.4
Urbina, C.5
Magoga, M.6
Joachim, C.7
-
12
-
-
23144456423
-
-
Xu, B. Q.; Li, X. L.; Xiao, X. Y.; Sakaguchi, H.; Tao, N. J. Nano Lett. 2005, 5, 1491-1495.
-
(2005)
Nano Lett
, vol.5
, pp. 1491-1495
-
-
Xu, B.Q.1
Li, X.L.2
Xiao, X.Y.3
Sakaguchi, H.4
Tao, N.J.5
-
13
-
-
33644770402
-
-
For recent review, see
-
For recent review, see: He, J.; Sankey, O.; Lee, M.; Tao, N.; Li, X.; Lindsay, S Faraday Discuss. 2006, 131, 145-154.
-
(2006)
Faraday Discuss
, vol.131
, pp. 145-154
-
-
He, J.1
Sankey, O.2
Lee, M.3
Tao, N.4
Li, X.5
Lindsay, S.6
-
14
-
-
0042322640
-
-
(a) Xu, B.; Tao, N. J. Science 2003, 301, 1221-1223.
-
(2003)
Science
, vol.301
, pp. 1221-1223
-
-
Xu, B.1
Tao, N.J.2
-
15
-
-
33244458255
-
-
(b) Li, X.; He, J.; Hihath, J.; Xu, B.; Lindsay, S. M.; Tao, N. J. J. Am. Chem. Soc. 2006, 126, 2135-2141.
-
(2006)
J. Am. Chem. Soc
, vol.126
, pp. 2135-2141
-
-
Li, X.1
He, J.2
Hihath, J.3
Xu, B.4
Lindsay, S.M.5
Tao, N.J.6
-
16
-
-
33645382383
-
-
Venkataraman, L.; Klare, J. E.; Tam, I. W.; Nuckolls, C; Hybertsen, M. S.; Steigerwald, M. L. Nano Lett. 2006, 6, 458-462.
-
(2006)
Nano Lett
, vol.6
, pp. 458-462
-
-
Venkataraman, L.1
Klare, J.E.2
Tam, I.W.3
Nuckolls, C.4
Hybertsen, M.S.5
Steigerwald, M.L.6
-
17
-
-
1442324527
-
-
Xiao, X.; Xu, B.; Tao, N. J. Nano Lett. 2004, 4, 267-271.
-
(2004)
Nano Lett
, vol.4
, pp. 267-271
-
-
Xiao, X.1
Xu, B.2
Tao, N.J.3
-
18
-
-
21244449830
-
-
Xiao, X.; Nagahara, L. A.; Rawlett, A. M.; Tao, N. J. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 9235-9240.
-
(2005)
J. Am. Chem. Soc
, vol.127
, pp. 9235-9240
-
-
Xiao, X.1
Nagahara, L.A.2
Rawlett, A.M.3
Tao, N.J.4
-
19
-
-
16244380443
-
-
(a) Chen, F.; He, J.; Nuckolls, C.; Roberts, T.; Klare, J. E.; Lindsay, S. Nano Lett. 2005, 5, 503-506.
-
(2005)
S. Nano Lett
, vol.5
, pp. 503-506
-
-
Chen, F.1
He, J.2
Nuckolls, C.3
Roberts, T.4
Klare, J.E.5
Lindsay6
-
21
-
-
13444262007
-
-
(a) He, J.; Chen, F.; Li, J.; Sankey, O. F.; Terazono, Y.; Herrero, C.; Gust, D.; Moore, T. A.; Moore, A. L.; Lindsay, S. M. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 1384-1385.
-
(2005)
J. Am. Chem. Soc
, vol.127
, pp. 1384-1385
-
-
He, J.1
Chen, F.2
Li, J.3
Sankey, O.F.4
Terazono, Y.5
Herrero, C.6
Gust, D.7
Moore, T.A.8
Moore, A.L.9
Lindsay, S.M.10
-
22
-
-
33745038672
-
-
(b) Visoly-Fisher, I.; Daie, K.; Terazono, Y.; Herrero, C.; Fungo, F.; Otero, L.; Durantini, E.; Silber, J. J.; Sereno, L.; Gust, D.; Moore, T. A.; Moore, An. L.; Lindsay, S. M. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2006, 103, 8686-8690.
-
(2006)
Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A
, vol.103
, pp. 8686-8690
-
-
Visoly-Fisher, I.1
Daie, K.2
Terazono, Y.3
Herrero, C.4
Fungo, F.5
Otero, L.6
Durantini, E.7
Silber, J.J.8
Sereno, L.9
Gust, D.10
Moore, T.A.11
Moore, A.L.12
Lindsay, S.M.13
-
26
-
-
33845658721
-
-
(a) Miura, S.; Kiguchi, M.; Murakoshi, K. Surf. Sci. 2007, 601, 287-291.
-
(2007)
Surf. Sci
, vol.601
, pp. 287-291
-
-
Miura, S.1
Kiguchi, M.2
Murakoshi, K.3
-
27
-
-
33845426690
-
-
(b) Kiguchi, M.; Miura, S.; Hara, K.; Sawamura, M.; Murakoshi, K Appl. Phys. Lett. 2006, 89, 213104.
-
(2006)
Appl. Phys. Lett
, vol.89
, pp. 213104
-
-
Kiguchi, M.1
Miura, S.2
Hara, K.3
Sawamura, M.4
Murakoshi, K.5
-
28
-
-
33645536046
-
-
(c) Ishizuka, K.; Suzuki, M.; Fujii, S.; Takayama, Y.; Sato, F.; Fujihira, M Jpn. J. Appl. Phys 2006, 45, 2037-2040.
-
(2006)
Jpn. J. Appl. Phys
, vol.45
, pp. 2037-2040
-
-
Ishizuka, K.1
Suzuki, M.2
Fujii, S.3
Takayama, Y.4
Sato, F.5
Fujihira, M.6
-
29
-
-
6044228212
-
-
(a) Ciszek, J. W.; Stewart, M. P.; Tour, J. M. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 13172-13173.
-
(2004)
J. Am. Chem. Soc
, vol.126
, pp. 13172-13173
-
-
Ciszek, J.W.1
Stewart, M.P.2
Tour, J.M.3
-
31
-
-
33749182841
-
-
(c) Dreesen, L.; Volcke, C.; Sartenaer, Y.; Peremans, A.; Thiry, P. A.; Humbert, C.; Grugier, J.; Marchand-Brynaert, J. Surf. Sci. 2006, 600, 4052-4057.
-
(2006)
Surf. Sci
, vol.600
, pp. 4052-4057
-
-
Dreesen, L.1
Volcke, C.2
Sartenaer, Y.3
Peremans, A.4
Thiry, P.A.5
Humbert, C.6
Grugier, J.7
Marchand-Brynaert, J.8
-
32
-
-
61449173608
-
-
The length of a thiophene unit is estimated to be 0.4 nm
-
The length of a thiophene unit is estimated to be 0.4 nm.
-
-
-
-
33
-
-
4043136053
-
-
(a) Nakamura, T.; Fujitsuka, M.; Araki, Y.; Ito, O.; Ikemoto, J.; Takimiya, K.; Aso, Y.; Otsubo, T. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 10700-10710.
-
(2004)
J. Phys. Chem. B
, vol.108
, pp. 10700-10710
-
-
Nakamura, T.1
Fujitsuka, M.2
Araki, Y.3
Ito, O.4
Ikemoto, J.5
Takimiya, K.6
Aso, Y.7
Otsubo, T.8
-
34
-
-
0000779861
-
-
(b) Ikemoto, J.; Takimiya, K.; Aso, Y.; Otsubo, T.; Fujitsuka, M.; Ito, O. Org. Lett. 2002, 4, 309-311.
-
(2002)
Org. Lett
, vol.4
, pp. 309-311
-
-
Ikemoto, J.1
Takimiya, K.2
Aso, Y.3
Otsubo, T.4
Fujitsuka, M.5
Ito, O.6
-
35
-
-
33845466868
-
-
Chen, F.; Li, X.; Hihath, J.; Gyabg, Z.; Tao, N. J. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 15874-15881.
-
(2006)
J. Am. Chem. Soc
, vol.128
, pp. 15874-15881
-
-
Chen, F.1
Li, X.2
Hihath, J.3
Gyabg, Z.4
Tao, N.J.5
-
36
-
-
33846490219
-
-
For a recent reciew, see
-
For a recent reciew, see: Giershner, J.; Cornil, J.; Egelhaaf, H.-J. Adv. Mater. 2007, 19, 173-191.
-
(2007)
Adv. Mater
, vol.19
, pp. 173-191
-
-
Giershner, J.1
Cornil, J.2
Egelhaaf, H.-J.3
|