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Volumn 46, Issue 9, 2004, Pages 1351-1373

Profile stiffness and global confinement

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DATABASE SYSTEMS; DIFFUSION; ELECTROSTATICS; PARAMETER ESTIMATION; PLASMA CONFINEMENT; THERMAL EFFECTS; TURBULENCE;

EID: 4644280755     PISSN: 07413335     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1088/0741-3335/46/9/002     Document Type: Article
Times cited : (157)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.