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Volumn , Issue , 2004, Pages 507-511

Defect detection on rail surfaces by a vision based system

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DEFECT DETECTION; RAIL SURFACES; SPECTRAL IMAGE DIFFERENCING PROCEDURE (SIDP); VISION BASED SYSTEMS;

EID: 4544259598     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
Times cited : (94)

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    • Ein neues Verfahren zur berührungslosen optischen Inspektion von Schienen
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    • Matrox Genesis resp. Odyssey
    • http://www.matrox.com, see Matrox Genesis resp. Odyssey


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.