Sodium-doped LaMnO3 thin films: Influence of substrate and thickness on physical properties

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 108, Issue 36, 2004, Pages 13643-13651

  Malavasi, Lorenzo ^a   Mozzati, Maria Cristina ^a   Alessandri, Ivano ^b   Depero, Laura E ^b   Azzoni, Carlo B ^a   Fior, Giorgio ^a  

^a UNIVERSITY OF PAVIA   (Italy)

^b UNIVERSITY OF BRESCIA   (Italy)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

DATA REDUCTION; DOPING (ADDITIVES); LANTHANUM COMPOUNDS; MAGNETORESISTANCE; MAGNETRON SPUTTERING; OPTIMIZATION; OXIDATION; SUPERCONDUCTING TRANSITION TEMPERATURE; THICKNESS MEASUREMENT; X RAY DIFFRACTION;

CURIE TEMPERATURE; FILM THICKNESS; X-RAY REFLECTIVITY MEASUREMENTS;

THIN FILMS;

EID: 4544233424     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp0481660     Document Type: Article

References (42)

1. Prellier W.; Lecoeur, Ph.; Mercey, B. J. Phys.: Condens. Matter 2001, 13, R915.
2. Jin, S.; Tiefel, T. H.; McCormack, M.; Fastmacht, R. A.; Ramesh, R.; Chen, L. H. Science 1993, 264, 413.
3. Jin, S.; McCormack, M.; Tiefel, T. H.; Ramesh, R J. Appl. Phys. 1994, 76, 6929.
4. von Helmolt, R.; Wecker, J.; Holzapfel, B.; Schultz, L.; Samwer, K. Phys. Rev. Lett. 1993, 71, 2331.
5. von Helmolt, R.; Wecker, J.; Samwer, K.; Haupt, L.; Baerner, K. J. Appl. Phys. 1994, 76, 6925.
6. McCormack, M.; Jin, S.; Tiefel, T. H.; Fleming, R. M.; Philips, J. M.; Ramesh, R. Appl. Phys. Lett. 1994, 64, 3045.
7. Mahendiran, R.; Tiwary, S. K.; Raychaudhuri, A. K.; Ramakrishnan, T. V.; Mahesh, R.; Rangavittal, N.; Rao, C. N. R. Phys. Rev. B 1996, 53, 3348.
8. Schiffer, P.; Ramirez, A. P.; Bao, W.; Cheong, S. W. Phys. Rev. Lett. 1995, 75, 3336.
9. Malavasi, L.; Mozzati, M. C.; Azzoni, C. B.; Chiodelli, G.; Flor, G. Solid State Commun. 2002, 123(8), 321.
10. Zener, C. Phys. Rev. 1951, 82, 403.
11. Millis, A. J.; Littelwood, P. B.; Shraiman, B. I. Phys. Rev. Lett. 1995, 74, 5144.
12. Röder, H.; Zang, J.; Bishop, A. R. Phys. Rev. Lett. 1996, 76, 1356.
13. Tsui, F.; Smoak, M. C.; Nath, T. K.; Eom, C. B. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 2421.
14. Jin, S.; Tiefel, T. H.; McCormack, M.; O'Bryan, H. M.; Chen, L. H.; Ramesh, R.; Schurig, D. Appl. Phys. Lett. 1995, 67, 557.
15. Zhang, P. X.; Zhang, H.; Cha, L. M.; Habermeier, H.-U. Physica B 2003, 527, 257.
16. Paranjape, M.; Raychaudhuri, A. K., Mathur, N. D.; Blamire, M. G. Phys. Rev. B 2003, 67, 2114415.
17. Sun, J. Z.; Abraham, D. W.; Rao, R. A.; Eom, C. B. Appl. Phys. Lett. 1999, 74, 3017.
18. Malavasi, L.; Mozzati, M. C.; Ghigna, P.; Azzoni, C. B.; Flor, G. J. Phys. Chem. B 2003, 707, 2500.
19. Malavasi, L.; Alessandri, I.; Mozzati, M. C.; Ghigna, P.; Chiodelli, G.; Azzoni, C. B.; Flor, G. Phys. Chem. Chem. Phys. 2003, 5, 2274.
20. Malavasi, L.; Mozzati, M. C.; Polizzi, S.; Azzoni, C. B.; Flor, G. Chem. Mater. 2003, 15, 5036.
21. Malavasi, L.; Flor, G. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 13880.
22. Sahana, M.; Singh, R. N.; Shivakumara, C.; Vasanthacharya, N. Y.; Hedge, M. S. Appl. Phys. Lett. 1997, 70, 2909.
23. Bibes, M.; Gorbenko, O.; Martinez, B.; Kaul, A.; Fontcuberta, J. J. Magn. Magn. Mater. 2000, 211, 47.
24. Ghigna, P.; Marzola, A.; Amantea, R.; Malavasi, L.; Flor, G.; D'Acapito, F.; Bardelli, F. submitted.
25. REFSIM software package; Bruker Optics.
26. Praus, R. B.; Gross, G. M.; Razavi, F. S.; Habermeier, H.-U. J. Magn. Magn. Mater. 2000, 211, 41.
27. Gross, G. M.; Razavi, F. S.; Praus, R. B.; Habermeier, H.-U. J. Magn. Magn. Mater. 2000, 211, 22.
28. Snyder, G. J.; Hiskes, R.; DiCarolis, S.; Beasley, M. R.; Geballe, T. H. Phys. Rev. B 1996, 53, 4434.
29. Blamire, M. G.; Schneider, C. W.; Hammeri, G.; Mannhart, J. Appl. Phys. Lett. 2003, 82, 2670.
30. Chen, G. J.; Chang, Y. H.; Hsu, H. W.; Chai, Y. L. Mater. Sci. Eng., B 2001, 84, 182.
31. Sahana, M.; Hedge, M. S.; Shivakumara, C.; Prasad, V.; Subramanyam, S. V. J. Solid State Chem. 1999, 148, 342.
32. Srinivas, V.; Pietambaram, D.; Kumar, D.; Singh, R. K.; Lee, C. B.; Kaushik, V. S. J. Appl. Phys. 1999, 86, 3317.
33. Dutta, A.; Gayathri, N.; Ranganathan, R. Phys. Rev. B 2003, 68, 54432.
34. Fu, Y. Appl. Phys. Lett. 2000, 77, 118.
35. Ranno, L.; Llobet, A.; Tiron, R.; Favre-Nicolin, E. Appl. Surf. Sci. 2002, 788, 170.
36. Aarts, J.; Freisem, S.; Hendrikx, R.; Zandbergen, H. W. Appl. Phys. Lett. 1998, 72, 2975.
37. Guimarães, A. P. Magnetism and Magnetic Resonance in Solids; Wiley-Interscience: New York, 1998; p 242.
38. Bibes, M.; Valencia, S.; Balcells, Ll.; Martinez, B.; Fontcuberta, J.; Wojick, M.; Nadolski, S.; Jedryka, E. Phys. Rev. B 2002, 66, 134416.
39. Sun, J. Z. Philos. Trans. R. Soc. London, Ser. A 1998, 356, 1693.
40. Zandbergen, H. W.; Preisen, S.; Nojima, T.; Aarts, J. Phys. Rev B 1999, 60, 10259.
41. Biswas, A.; Rajeswari, R. C.; Srivastava, R. C.; Li, Y. H.; Venkatesan, T.; Greene, R. L.; Millis, A. J. Phys. Rev. B 2000, 67, 9665.
42. Khazeni, K.; Jia, Y. X.; Crespi, V. H.; Cohen, M. L.; Zettl, A. Phys. Rev. Lett. 1996, 76, 295.