Atomic scale characterization of buried InxGa1-xAs quantum dots using pulsed laser atom probe tomography

Applied Physics Letters

Volumn 92, Issue 23, 2008, Pages

  Muller M ^a   Cerezo, A ^a   Smith, G D W ^a   Chang, L ^b   Gerstl, S S A ^b  

^a UNIVERSITY OF OXFORD   (United Kingdom)

^b NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY   (Taiwan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ATOMIC PHYSICS; DIAGNOSTIC RADIOGRAPHY; IMAGING TECHNIQUES; MEDICAL IMAGING; TOMOGRAPHY;

ATOM PROBE TOMOGRAPHY (APT); ATOMIC SCALE CHARACTERIZATION;

ATOMS;

EID: 45149102165     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2918846     Document Type: Article

References (24)

1. A. P. Alivisatos, Science 271, 933 (1996).
2. D. Zhi, H. Davock, R. Murray, C. Roberts, T. S. Jones, D. W. Pashley, P. J. Goodhew, and B. A. Joyce, J. Appl. Phys. 89, 2079 (2001).
3. P. A. Crozier, M. Catalano, R. Cingolani, and A. Passaseo, Appl. Phys. Lett. 79, 3170 (2001).
4. K. Ozasa, Y. Aoyagi, M. Iwaki, and H. Kurata, J. Appl. Phys. 94, 313 (2003).
5. D. Zhi, M. Wei, R. E. Dunin-Borkowski, P. A. Midgley, D. W. Pashley, T. S. Jones, B. A. Joyce, P. F. Fewster, and P. J. Goodhew, Microelectron. Eng. 73 -74, 604 (2004).
6. A. Lemàtre, G. Patriarche, and F. Glas, Appl. Phys. Lett. 85, 3717 (2004).
7. A. Sauerwald, T. Kümmell, D. Peskes, G. Bacher, A. Löffler, J. P. Reithmaier, and A. Forchel, Appl. Phys. Lett. 89, 023121 (2006).
8. G. Costantini, A. Rastelli, C. Manzano, P. Acosta-Diaz, R. Songmuang, G. Katsaros, O. G. Schmidt, and K. Kern, Phys. Rev. Lett. 96, 226106 (2006).
9. P. Wang, A. L. Bleloch, M. Falke, P. J. Goodhew, J. Ng, and M. Missous, Appl. Phys. Lett. 89, 072111 (2006).
10. B. Lita, R. S. Goldman, J. D. Phillips, and P. K. Bhattacharya, Appl. Phys. Lett. 75, 2797 (1999).
11. N. Liu, J. Tersoff, O. Baklenov, A. L. Holmes, Jr., and C. K. Shih, Phys. Rev. Lett. 84, 334 (2000).
12. D. M. Bruls, J. W. A. M. Vugs, P. M. Koenraad, H. W. M. Salemink, J. H. Wolter, M. Hopkinson, M. S. Skolnick, F. Long, and S. P. A. Gill, Appl. Phys. Lett. 81, 1708 (2002).
13. Q. Gong, P. Offermans, R. Nötzel, P. M. Koenraad, and J. H. Wolter, Appl. Phys. Lett. 85, 5697 (2004).
14. P. Offermans, P. M. Koenraad, R. Nötzel, J. H. Wolter, and K. Pierz, Appl. Phys. Lett. 87, 111903 (2005).
15. L. Ouattara, A. Mikkelsen, E. Lundgren, L. Höglund, C. Asplund, and J. Y. Andersson, J. Appl. Phys. 100, 044320 (2006).
16. P. F. Fewster, V. Holy, and D. Zhi, J. Phys. D 36, A217 (2003).
17. M. Sztucki, T. U. Schulli, T. H. Metzger, E. Beham, D. Schuh, and V. Chamard, Superlattices Microstruct. 36, 11 (2004).
18. K. Thompson, D. Lawrence, D. J. Larson, J. D. Olson, T. F. Kelly, and B. Gorman, Ultramicroscopy 107, 131 (2007).
19. K. Thompson, B. Gorman, D. J. Larson, B. Van Leer, and L. Hong, Microsc. Microanal. 12, 1736 (2006).
20. M. K. Miller, Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level, (Kluwer Academic/Plenum, New York, London, 2000), p. 239.
21. L. G. Wang, P. Kratzer, N. Moll, and M. Scheffler, Phys. Rev. B 62, 1897 (2000).
22. S. M. De Sousa Pereira, K. P. O'Donnell, and E. J. Da Costa Alves, Adv. Funct. Mater. 17, 37 (2007).
23. R. Santoprete, P. Kratzer, M. Scheffler, R. B. Capaz, and B. Koiller, J. Appl. Phys. 102, 023711 (2007).
24. Ch. Heyn, A. Schramm, T. Kipp, and W. Hansen, J. Cryst. Growth 301 -302, 692 (2007).