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Volumn 100, Issue 21, 2008, Pages

Transient dynamics increasing network vulnerability to cascading failures

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ELECTRIC LOADS; MATHEMATICAL MODELS; ROBUSTNESS (CONTROL SYSTEMS);

EID: 44449146425     PISSN: 00319007     EISSN: 10797114     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevLett.100.218701     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.