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Volumn 29, Issue 5, 2008, Pages 1035-1039

XLPE insulation compound purity evaluation based on contaminant particle mapping technology

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Contamination detection; Crossing linkable polyethylene; Data processing; Field programmable gate array

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EID: 44449145097     PISSN: 02543087     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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References (8)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.